An improved test generation approach for sequential circuits using decision diagrams
autor
Brik, Marina
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Marina Brik, Raimund Ubar
allikas
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
ilmumiskoht
[Tallinn]
ilmumisaasta
1998
leheküljed
p. 155-158: ill
märksõna
integraallülitused
elektriahelad
testimine
otsustusdiagrammid
ISBN
9985-59-081-3
märkused
Bibl. 8 ref
keel
inglise