Dushina, J., Brik, M. - TalTech teadusportaal

Test generation for control faults in digital systems

autor

Dušina, Julia

Brik, Marina

vastutusandmed

J.Dushina, M.Brik

allikas

BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 1

ilmumiskoht

Tallinn

ilmumisaasta

1994

leheküljed

p. 325-330: ill

ISBN

9985-59-012-0

märkused

Bibl. 16 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

digitaaltehnika

rikked

testimine

kontroll

Dushina, J., Brik, M. Test generation for control faults in digital systems // BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 1. Tallinn, 1994. p. 325-330: ill.