prindi

Hierarchical test generation. SEMI show slides

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Raik, Jaan
vastutusandmed
R. Ubar, J. Raik
allikas
"Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 1999
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
SEMI
ilmumisaasta
1999
leheküljed
p. 53-64
märksõna
testimine
testid
digitaaltehnika
keel
inglise
Ubar, R., Raik, J. Hierarchical test generation. SEMI show slides // "Test, Assembly and Packaging" : SEMICON Technical Symposium : Singapur, May 3-6, 1999. [S.l.] : SEMI, 1999. p. 53-64.