Fault diagnosis in integrated circuits with BIST
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik, Teet Evartson, Harri Lensen
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 604-610 : ill
konverentsi nimetus, aeg
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, 29-31 August, 2007
konverentsi toimumispaik
Lübeck, Germany
ISBN
978-0-7695-2978-3
märkused
Bibliogr.: 16 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Ubar, R.-J., Kostin, S., Raik, J., Evartson, T., Lensen, H. Fault diagnosis in integrated circuits with BIST // 10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings. Los Alamitos : IEEE Computer Society, 2007. p. 604-610 : ill.