prindi

New categories of Safe Faults in a processor-based Embedded System

autor
Gürsoy, Cemil Cem
Jenihhin, Maksim
Oyeniran, Adeboye Stephen
Piumatti, Davide
Raik, Jaan
Sonza Reorda, Matteo
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
C. Gursoy, M. Jenihhin, A.S. Oyeniran, D. Piumatti, J. Raik, M. Sonza Reorda, R. Ubar
allikas
2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2019
leheküljed
4 p. : ill
konverentsi nimetus, aeg
22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), 24-26 April 2019
konverentsi toimumispaik
Cluj-Napoca, Romania
leitav
https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724642
märksõna
manussüsteemid
protsessorid
rikked
ISSN
2473-2117
ISBN
978-1-7281-0073-9
märkused
Bibliogr.: 17 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Gürsoy, C., Jenihhin, M., Oyeniran, A.S., Piumatti, D., Raik, J., Sonza Reorda, M., Ubar, R. New categories of Safe Faults in a processor-based Embedded System // 2019 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Cluj-Napoca, Romania : proceedings. Danvers : IEEE, 2019. 4 p. : ill. https://doi.org/10.1109/DDECS.2019.8724642