Teaching digital system test
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Margus Kruus
allikas
The 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
[6] p
konverentsi nimetus, aeg
The 27th EAEEIE Annual Conference, June 7-9, 2017
konverentsi toimumispaik
Grenoble, France
märkused
EAEEIE = European Association for Education in Electrical and Information Engineering
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
high-level decision diagram
Oyeniran, A.S., Ubar, R., Kruus, M. Teaching digital system test // The 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble. [S.l.] : IEEE Computer Society, 2017. [6] p.