prindi

Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional

autor
Lai, Xinhu
Balakrishnan, Aneesh
Lange, Thomas
Jenihhin, Maksim
Ghasempouri, Tara
Raik, Jaan
Alexandrescu, Dan
vastutusandmed
Xinhui Lai, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maksim Jenihhin, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Dan Alexandrescu
allikas
Microprocessors and microsystems
ajakirja aastakäik number kuu
vol. 71
ilmumisaasta
2019
leheküljed
art. 102867, 13 p. : ill
leitav
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867
märksõna
riistvara
verifikatsioon
tehisõpe
võtmesõna
extra-functional verification
functional verification
survey
taxonomy
security verification
reliability verification
power verification
machine learning
ISSN
0141-9331
märkused
Bibliogr.: 86 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Lai, X., Balakrishnan, A., Lange, T., Jenihhin, M., Ghasempouri, T., Raik, J., Alexandrescu, D. Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional // Microprocessors and microsystems (2019) vol. 71, art. 102867, 13 p. : ill. https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867