Lai, X., Balakrishnan, A., Lange, T., Jenihhin, M., Ghasempouri, T., Raik, J., Alexandrescu, D.

prindi

Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional

autor

Lai, Xinhui

Balakrishnan, Aneesh

Lange, Thomas

Jenihhin, Maksim

Ghasempouri, Tara

Raik, Jaan

Alexandrescu, Dan

vastutusandmed

Xinhui Lai, Aneesh Balakrishnan, Thomas Lange, Maksim Jenihhin, Tara Ghasempouri, Jaan Raik, Dan Alexandrescu

allikas

Microprocessors and microsystems

kirjastus/väljaandja

Elsevier

ajakirja aastakäik number kuu

vol. 71

ilmumisaasta

2019

leheküljed

art. 102867, 13 p. : ill

leitav

https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867

märksõna

riistvara

verifikatsioon

tehisõpe

võtmesõna

extra-functional verification

functional verification

survey

taxonomy

security verification

reliability verification

power verification

machine learning

ISSN

0141-9331

märkused

Bibliogr.: 86 ref

Open Access

teaduspublikatsioon

klassifikaator

1.1

Scopus

Journal metrics at Scopus

Article at Scopus

WOS

Journal metrics at WOS

Article at WOS

kategooria (üld)

Arvutiteadus

kategooria (alam)

Arvutiteadus. Arvutivõrgud ja side

Arvutiteadus. Riistvara ja arhitektuur

Arvutiteadus. Tarkvara

Arvutiteadus. Tehisintellekt

kvartiil

TTÜ struktuuriüksus

arvutisüsteemide instituut

keel

inglise

Uurimisrühm

Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)

Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus

Lai, X., Balakrishnan, A., Lange, T., Jenihhin, M., Ghasempouri, T., Raik, J., Alexandrescu, D. Understanding multidimensional verification : where functional meets non-functional // Microprocessors and microsystems (2019) vol. 71, art. 102867, 13 p. : ill. https://doi.org/10.1016/j.micpro.2019.102867