Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
atomic force microscopy (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/45)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Growth dynamics of nanocrystalline diamond films produced by microwave plasma enhanced chemical vapor deposition in methane/hydrogen/air mixture : scaling analysis of surface morphology
Podgurski, Vitali
;
Bogatov, Andrei
;
Sedov, V.
;
Sildos, Ilmo
;
Mere, Arvo
;
Viljus, Mart
;
Buijnsters, J. G.
;
Ralchenko, V.
Diamond and related materials
2015
/
p. 172-179 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2015.07.002
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Thermal annealing of sequentially deposited SnS thin films
Safonova, Maria
;
Nair, Padmanabhan Pankajakshy Karunakaran
;
Mellikov, Enn
;
Aragon, Rebeca
;
Kerm, Karin
;
Naidu, Revathi
;
Mikli, Valdek
;
Volobujeva, Olga
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2015
/
p. 488-494 : ill
http://dx.doi.org/10.3176/proc.2015.4.04
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
45
1.
atomic force microscopy
2.
atomic force microscopy (AFM)
3.
cryoelectron microscopy single-particle analysis
4.
electron microscopy
5.
Fluorescence microscopy
6.
light microscopy
7.
microscopy
8.
microscopy image analysis
9.
optical microscopy
10.
scanning electron microscopy
11.
TIRF microscopy
12.
transmission electron microscopy
13.
atomic layer deposition
14.
atomic NFA
15.
atomic oxygen irradiation
16.
atomic structure
17.
atomic structures
18.
atomic weight
19.
Bio-active™ multi-force archwires
20.
brute-force
21.
coercive force
22.
compressive ice force
23.
covalent intermolecular force
24.
electromagnetic force
25.
electromotive force (EMF) calculation
26.
force
27.
force control
28.
force feedback
29.
force field calculations
30.
force measurement
31.
force plates
32.
gavitational force
33.
gravitational force
34.
illocutionary force
35.
impact force
36.
impact force debris
37.
labour force
38.
lifting force
39.
Lorenz force
40.
multi-force orthodontic wires
41.
radial force
42.
senior work force
43.
underwater force measurements
44.
use of force
45.
wind force model
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT