Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
autor
vastutusandmed
Raimund Ubar
allikas
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
ajakirja aastakäik number kuu
Но. 3
ilmumisaasta
leheküljed
p. 99-113 : ill
ISSN
1998-8605
märkused
Bibliogr.: 49 ref
Kokkuvõte: Влияние неисправностей цифровых систем на топологию решающих диаграмм низкого и высокого уровней
keel
inglise
võtmesõna
binary decision diagrams (BDD)
structurally synthesized BDD (SSBDD)
shared SSBDD (SSSBDD)
high level DD (HLDD)
test generation and fault diagnosis
TTÜ struktuuriüksus
Ubar, R. Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика (2014) Но. 3, p. 99-113 : ill.