Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams
autor
vastutusandmed
Raimund Ubar
allikas
Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика
ajakirja aastakäik number kuu
Но. 3
ilmumisaasta
leheküljed
p. 99-113 : ill
võtmesõna
binary decision diagrams (BDD)
structurally synthesized BDD (SSBDD)
shared SSBDD (SSSBDD)
high level DD (HLDD)
test generation and fault diagnosis
ISSN
1998-8605
märkused
Bibliogr.: 49 ref
Kokkuvõte: Влияние неисправностей цифровых систем на топологию решающих диаграмм низкого и высокого уровней
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Ubar, R. Fault effect reasoning in digital systems by topological view on low- and high-level decision diagrams // Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика (2014) Но. 3, p. 99-113 : ill.