prindi

Teaching digital system test

autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
Kruus, Margus
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Margus Kruus
allikas
The 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE Computer Society
ilmumisaasta
2017
leheküljed
[6] p
konverentsi nimetus, aeg
The 27th EAEEIE Annual Conference, June 7-9, 2017
konverentsi toimumispaik
Grenoble, France
märksõna
süsteemide modelleerimine
mikroprotsessorid
rikked
diagnostika (tehnika)
testimine
võtmesõna
microprocessor
fault models
test generation
fault simulation
software-based self-test
high-level decision diagram
märkused
EAEEIE = European Association for Education in Electrical and Information Engineering
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Oyeniran, A.S., Ubar, R., Kruus, M. Teaching digital system test // The 27th EAEEIE Annual Conference : June 7-9, 2017, Grenoble. [S.l.] : IEEE Computer Society, 2017. [6] p.