Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Cibakova, Tatiana (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
9
Vaata veel..
(3/24)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(9)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Defect oriented fault coverage of 100stuck-at fault test sets
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 7th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2000 : Gdynia, Poland, 15-17 June 2000
2000
/
p. 511-516 : ill
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Defect-oriented library builder and hierarchical test generation
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - IEEE DDECS 2001 : Fourth International Workshop on IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Györ, Hungary, April 18-20, 2001
2001
/
p. 163-168 : ill
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Defect-oriented test generation using probabilistic estimation
Cibakova, Tatiana
;
Fischerova, Maria
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 8th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems : MIXDES 2001 : Zakopane, Poland, 21-23 June 2000
2001
/
p. 131-136 : ill
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
Hierarchical defect level test quality analysis
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
VILAB User Forum
2000
/
[11] p
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop : 23-26 May 2000, Cascais, Portugal : ETW 2000 : proceedings
2000
/
p. 69-74 : ill
artikkel kogumikus
6
artikkel kogumikus
Hierarchical defect-oriented fault simulation for digital circuits
Blyzniuk, M.
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Lobur, M.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
IEEE European Test Workshop
2000
/
p. 151-156
https://ieeexplore.ieee.org/document/873781
artikkel kogumikus
7
artikkel ajakirjas
Hierarchical test generation for combinational circuits with real defects coverage
Cibakova, Tatiana
;
Fischerova, Maria
;
Gramatova, Elena
;
Kuzmicz, W.
;
Pleskacz, Witold A.
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics reliability
2002
/
p. 1141-1149 : ill
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S002627140200080X
artikkel ajakirjas
8
artikkel kogumikus
Internet-based collaborative test generation with MOSCITO [Electronic resource]
Schneider, Andre
;
Ivask, Eero
;
Miklos, P.
;
Raik, Jaan
;
Diener, Karl-Heinz
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Cibakova, Tatiana
;
Gramatova, Elena
SIGDA publications on CD-ROM : DATE'02 : Design, Automation and Test in Europe, Paris, France, March 4-8, 2002
2002
/
[6] p. [CD-ROM]
https://www.cecs.uci.edu/~papers/date07/PAPERS/2002/DATE02/PDFFILES/02E_2.PDF
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
Test pattern generation at the behavioral level from VHDL circuit description containing several processes
Gramatova, Elena
;
Bezakova, Jana
;
Cibakova, Tatiana
BEC'96 : the 5th Biennial Baltic Electronics Conference, October 7-11, 1996, Tallinn, Estonia : proceedings
1996
/
p. 145-148
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 9, kuvan
1 - 9
autor
20
1.
Cibakova, Tatiana
2.
Andrienko, Tatiana
3.
Anisimova, Tatiana
4.
Baranenko, Tatiana
5.
Bochun, Tatiana
6.
Bukanova, Tatiana
7.
Churyumo, Tatiana
8.
Kozyreva, Tatiana
9.
Kruzhilina, Tatiana
10.
Kudriavtseva, Tatiana
11.
Kudryavtseva, Tatiana
12.
Kuznetsova, Tatiana
13.
Moiseeva, Tatiana
14.
Netzeva, Tatiana
15.
Polyakova, Tatiana
16.
Shults, Tatiana
17.
Tennikova, Tatiana
18.
Totskaya, Tatiana
19.
Voropayeva, Tatiana
20.
Yakovleva, Tatiana
tema kohta
2
1.
Kudriavtseva, Tatiana
2.
Moiseeva, Tatiana
CV
2
1.
Kulashova, Tatiana 1995
2.
Moiseeva, Tatiana
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT