prindi

Modeling soft-error reliability under variability

autor
Balakrishnan, Aneesh
Cardoso Medeiros, Guilherme
Gürsoy, Cemil Cem
Hamdioui, Said
Jenihhin, Maksim
Alexandrescu, Dan
vastutusandmed
Aneesh Balakrishnan; Guilherme Cardoso Medeiros; Cemil Cem Gürsoy; Said Hamdioui; Maksim Jenihhin; Dan Alexandrescu
allikas
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 2021
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2021
leheküljed
p. 1-6
konverentsi nimetus, aeg
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 2021
leitav
https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568295
märksõna
analüüs
termilised mõõtmised
vead
modelleerimine (teadus)
tõrked
pinge
võtmesõna
Negative bias temperature instability
analytical models
thermal variables control
voltage
aging
very large scale integration
data models
ISSN
2765-933X
ISBN
978-1-6654-1609-2
märkused
Bibliogr.: 19 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Balakrishnan, A., Medeiros, G.C., Gürsoy, C.C., Hamdioui, S., Jenihhin, M., Alexandrescu, D. Modeling soft-error reliability under variability // 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 2021. : IEEE, 2021. p. 1-6. https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568295