Otsing - TalTech teadusportaal

kuva

reasta

101

artikkel kogumikus

Efficient methodology for ISO26262 functional safety verificationAugusto da Silva, Felipe; Bagbaba, Ahmet Cagri; Hamdioui, Said; Sauer, Christian2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 1-3 July 2019, Rhodes, Greece2019 / p. 255-256 https://doi.org/10.1109/IOLTS.2019.8854449

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks

102

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

EFIC-ME : a fast emulation based fault injection control and monitoring enhancementAbideen, Zain Ul; Rashid, Muhammad HaroonIEEE Access2020 / p. 207705-207716 https://doi.org/10.1109/ACCESS.2020.3038198 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

103

artikkel ajalehes

Eksperdid: päikesetormide mõju pärast tänapäeval enam muretsema ei peaPiir, Raitnovaator.err.ee2024 Eksperdid: päikesetormide mõju pärast tänapäeval enam muretsema ei pea

artikkel ajalehes

104

artikkel ajakirjas

Elektrilevi investeeringutest ja võrgu katkestustestRajangu, VäinoElektriala2015 / lk. 28 https://artiklid.elnet.ee/record=b2738903*est

artikkel ajakirjas

105

artikkel ajalehes

Elektrimasinate terviserikkeid aitaks ennetada tehisintellekt [Võrguväljaanne]Kudelina, Karolinanovaator.err.ee2021 "Elektrimasinate terviserikkeid aitaks ennetada tehisintellekt"

artikkel ajalehes

106

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V : kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmed. Osa 3, Rikkesilmuse näivtakistus = Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1000 V a.c. and 1500 V d.c. : equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures. Part 3, Loop impedance (IEC 61557-3:2019)2022 https://www.ester.ee/record=b5509793*est

raamat

107

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V : kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmed. Osa 7, Faasijärjestus = Electrical safety in low voltage distribution systems up to 1000 V a.c. and 1500 V d.c. : equipment for testing, measuring or monitoring of protective measures. Part 7, Phase sequence (IEC 61557-7:2019)2022 https://www.ester.ee/record=b5509797*est

raamat

108

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2009 https://www.ester.ee/record=b2462029*est

raamat

109

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2009 https://www.ester.ee/record=b2462036*est

raamat

110

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2009 https://www.ester.ee/record=b2478889*est

raamat

111

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2009 https://www.ester.ee/record=b2478886*est

raamat

112

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2009 https://www.ester.ee/record=b2478887*est

raamat

113

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2010 https://www.ester.ee/record=b2594967*est

raamat

114

raamat

Elektriohutus madalpingevõrkudes vahelduvpingega kuni 1000 V ja alalispingega kuni 1500 V. Kaitsesüsteemide katsetus-, mõõte- ja seireseadmedRisthein, Endel2010 https://www.ester.ee/record=b2594972*est

raamat

115

artikkel kogumikus

Enabling cross-layer reliability and functional safety assessment through ML-based compact modelsAlexandrescu, Dan; Balakrishnan, Aneesh; Lange, Thomas; Glorieux, MaximilienProceedings : 2020 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design : IOLTS 2020, Napoli, Italy, July 13-16, 2020 : virtual edition2020 / 6 p. : ill https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159750

artikkel kogumikus

Seotud publikatsioonid 1

A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks

116

artikkel kogumikus

Environment for fault simulation acceleration on FPGAEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tihhomirov, ValentinBEC 2004 : proceedings of the 9th Biennial Baltic Electronics Conference : October 3-6, 2004, Tallinn, Estonia2004 / p. 217-220 : ill

artikkel kogumikus

117

artikkel ajakirjas

Environment for FPGA-based fault emulationEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tammemäe, Kalle; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the Estonian Academy of Sciences. Engineering2006 / 3-2, p. 323-335 : ill

artikkel ajakirjas

118

artikkel ajakirjas

Environment for the analysis of functional self-test quality in digital systemsUbar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Kruus, Helena; Aarna, Margit; Devadze, SergeiProceedings of the Estonian Academy of Sciences2014 / p. 151-162 : ill https://artiklid.elnet.ee/record=b2673964*est

artikkel ajakirjas

119

artikkel kogumikus

Estimation of complex derivatives and application for fault diagnosisBaraškova, Tatjana; Arjassov, Gennadi; Gornostajev, DmitriAnnals of DAAAM for 2012 & Proceedings of the 23rd International DAAAM Symposium : Intelligent Manufacturing & Automation2012 / p. 0469-0472 : ill. [CD-ROM] https://www.daaam.info/Downloads/Pdfs/proceedings/proceedings_2012/109.pdf

artikkel kogumikus

120

artikkel kogumikus

Estimation of complex derivatives application for fault diagnosisBaraškova, Tatjana; Pascault, D.17th International conference on "Mathematical Modelling and Analysis" : June 6-9, 2012, Tallinn, Estonia : abstracts2012 / p. 19

artikkel kogumikus

121

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Evaluating architectural, redundancy, and implementation strategies for radiation hardening of FinFET integrated circuitsPagliarini, Samuel Nascimento; Benites, Luis; Martins, Mayler; Rech, Paolo; Kastensmidt, FernandaIEEE transactions on nuclear science2021 / p. 1045-1053 https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3070643 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

122

artikkel ajakirjas

Exact parallel critical path fault tracing to speed-up fault simulation in sequential circuitsKõusaar, Jaak; Ubar, Raimund-Johannes; Kostin, Sergei; Devadze, Sergei; Raik, JaanInternational journal of microelectronics and computer science2018 / p. 9−18 https://ijmcs.dmcs.pl/web/guest/vol.-9-no.-1 https://ijmcs.dmcs.pl/documents/10630/345460/IJMCS_1_2018_2.pdf

artikkel ajakirjas

123

artikkel kogumikus

Experimental performance validation of Z-source DC circuit breaker for high impedance faultsPogulaguntla, Aditya; Naik Banavath, Satish; Chub, Andrii; Vinnikov, Dmitri; Singh, Rajendra2024 IEEE Sixth International Conference on DC Microgrids (ICDCM)2024 / 5 p https://doi.org/10.1109/ICDCM60322.2024.10664702

artikkel kogumikus

124

artikkel ajalehes

Experts: No need to worry about the impact of solar storms todayPiir, Raitnews.err.ee2024 Experts: No need to worry about the impact of solar storms today

artikkel ajalehes

125

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

Explainability and transparency of classifiers for air-handling unit faults using explainable artificial intelligence (XAI)Meas, Molika; Machlev, Ram; Köse, Ahmet; Tepljakov, Aleksei; Loo, Lauri; Levron, Yoash; Petlenkov, Eduard; Belikov, JuriSensors2022 / art. 6338 : ill https://doi.org/10.3390/s22176338 Journal metrics at Scopus Article at Scopus Journal metrics at WOS Article at WOS

artikkel ajakirjas EST / artikkel ajakirjas ENG

rikked (märksõna)

teaviku laadid

märksõna 1