Otsing - TalTech teadusportaal

Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English

Publikatsioonid

Publikatsioonid

Otsing

Valitud kirjed 0

Ubar, Raimund-Johannes (TTÜ autor)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

Kirjeid leitud 833
Vaata veel.. (4/138)
Ekspordi

ekspordi kõik päringu tulemused (833)
Salvesta TXT fail

Salvesta PDF fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
276

artikkel kogumikus

Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithmsIvask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesIEEE European Test Workshop2000 / p. 319-320

artikkel kogumikus
277

artikkel kogumikus

Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using Genetic AlgorithmsIvask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesThe 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings2000 / p. 129-132 : ill

artikkel kogumikus
278

dissertatsioon

Fault simulation of digital systems = Digitaalsüsteemide rikete simuleerimineDevadze, Sergei2009 https://digi.lib.ttu.ee/i/?445 https://www.ester.ee/record=b2508727*est

dissertatsioon
279

artikkel kogumikus

Fault simulation with parallel critical path tracing for combinational circuits using structurally synthesized BDDsDevadze, Sergei; Raik, Jaan; Jutman, Artur; Ubar, Raimund-Johannes7th IEEE Latin American Test Workshop LATW'06 : Buenos Aires, Argentina, March 26th-29th, 2006 : proceedings2006 / p. 97-102 : ill

artikkel kogumikus
280

artikkel kogumikus

Fault simulation with parallel exact critical path tracing in multiple core environmentGorev, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Devadze, SergeiProceedings of the 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) : 9-13 March 2015, Grenoble, France2015 / p. 1180-1185 : ill

artikkel kogumikus
281

artikkel kogumikus

Faults and fault models for integrated circuits and systems [Electronic resource] : [slides]Ubar, Raimund-JohannesDesign and Test Technology for Dependable Hardware/Software Systems : DEDIS/DAAD Summer Academy : BTU Cottbus, Sept. 1st-12th, 20082008 / [64] p. : ill. [CD-ROM]

artikkel kogumikus
282

artikkel kogumikus

Feasibility of structurally synthesized BDD models for test generationRaik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProceedings of the IEEE European Test Workshop, Barcelona, Spain, May 27-29, 19981998 / p. 145-146

artikkel kogumikus
283

raamat

Fehler in Automaten1989 http://www.ester.ee/record=b2015320*est

raamat
284

artikkel ajakirjas

Fehlerbestimmung in kombinatorischen Scaltungen durch Lösung der Booleschen DifferentialgleichungenUbar, Raimund-JohannesNachrichtentechnik, Elektronik : technisch-wissenschaftlishe Zeitschrift für die gesamte elektronische Nachrichtentechnik1978 / p. 330-334 : ill https://www.ester.ee/record=b1550811*est

artikkel ajakirjas
285

artikkel kogumikus

ForewordUbar, Raimund-Johannes; Prinetto, Paolo; Al-Hashimi, BashirInformal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 20052005 / p. III

artikkel kogumikus
286

artikkel kogumikus

Foreword to the 12th IEEE DDECS SymposiumPliva, Zdenek; Manhaeve, Hans; Renovell, Michel; Novak, Ondrej; Ubar, Raimund-Johannes; Drabkova, JindraProceedings of the 2009 IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 15-17, 2009, Liberec, Czech Republic2009 / p. iii http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2009.5012081

artikkel kogumikus
287

dissertatsioon

Formal verification and error correction on high-level decision diagrams = Formaalne verifitseerimine ja vigade parandamine kõrgtasemelistel otsustusdiagrammidelKarputkin, Anton2012

dissertatsioon
288

artikkel kogumikus

FPGA based fault emulation of synchronous sequential circuitsEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tihhomirov, Valentin; Ubar, Raimund-JohannesProceedings [of] 22nd NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 20042004 / p. 59-62 https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/1423822

artikkel kogumikus
289

artikkel kogumikus

FPGA design flow with automated test generationElst, G.; Diener, Karl-Heinz; Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund-JohannesProc. of German 11th Workshop on Test Technology and Reliability of Circuits and Systems : Potsdam, 19991999 / p. 120-123

artikkel kogumikus
290

artikkel ajakirjas

FPGA-based fault emulation of synchronous sequential circuitsEllervee, Peeter; Raik, Jaan; Tammemäe, Kalle; Ubar, Raimund-JohannesIET computers and digital techniques2007 / 2, p. 70-76 : ill https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/1423822

artikkel ajakirjas
291

artikkel kogumikus

From online fault detection to fault management in network-on-chips : a ground-up approachAzad, Siavoosh Payandeh; Niazmand, Behrad; Janson, Karl; Nevin, George; Oyeniran, Adeboye Stephen; Putkaradze, Tsotne; Apneet Kaur; Raik, Jaan; Jervan, Gert; Ubar, Raimund-Johannes; Hollstein, ThomasProceedings 2017 IEEE 20th International Symposium on Design and Diagnotics of Electronic Circuit & Systems(DDECS) : April 19-21, 2017, Dresden, Germany2017 / p. 48-53 : ill https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=7934553

artikkel kogumikus
292

artikkel kogumikus

FTGEN - система генерирования функциональных тестовUbar, Raimund-Johannes; Dušina, Julia; Zaugarov, Viktor; Крупнова Е.; Storožev, SergeiProceedings of CAD-93 : new information technologies for science, education and business, Yalta, May 4-13, 19931993 / p. 123-125

artikkel kogumikus
293

artikkel kogumikus

Functional built-in self-test for processor cores in SoCUbar, Raimund-Johannes; Indus, Viljar; Kalmend, Oliver; Evartson, Teet; Orasson, Elmet30th IEEE NORCHIP Conference : Copenhagen, Denmark, November 12-14, 20122012 / p. 1-4 : ill

artikkel kogumikus
294

artikkel kogumikus

Functional level controllability analysis for digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kuchcinski, KtzysztofProc. of the Design Automation Conference, Kaunas, Lithuania, June 1-4, 19921992 / p. 13-21

artikkel kogumikus
295

artikkel kogumikus

Functional level test set generation methodsUbar, Raimund-JohannesProceedings of the 12th Conference on Fault-Tolerant Systems and Diagnostics, Prague, Czechoslovakia, September, 19891989 / p. 46-55

artikkel kogumikus
296

artikkel kogumikus

Functional level testability analysis for digital circuitsUbar, Raimund-Johannes; Kuchcinski, KtzysztofETC '93 : European Test Conference, Rotterdam, The Netherlands, April 19-22, 19931993 / p. 545-546

artikkel kogumikus
297

raamat

Functional level testability analysis for digital circuitsUbar, Raimund-Johannes1992

raamat
298

artikkel ajakirjas

Functional self-test of high-performance pipe-lined signal processing architecturesGorev, Maksim; Ubar, Raimund-Johannes; Ellervee, Peeter; Devadze, Sergei; Raik, Jaan; Min, MartMicroprocessors and microsystems2015 / p. 909-918 : ill http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2014.11.002

artikkel ajakirjas
299

artikkel kogumikus

Functional specification and testing of digital systemsUbar, Raimund-JohannesMultimicroprocessor systems: Proceedings of the 3rd Symposium, Stralsund, oct. 16-20, 1989, Vol 11989 / p. 207-217

artikkel kogumikus
300

artikkel kogumikus

Functional test generation for finite state machinesUbar, Raimund-Johannes; Brik, Marina; Jutman, Artur; Raik, Jaan; Bengtsson, Tomas; Kumar, ShashiBEC 2006 : 2006 International Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 2-4, 2006, Tallinn, Estonia : proceedings of the 10th Biennial Baltic Electronics Conference2006 / p. 205-208 : ill

artikkel kogumikus

Kirjeid leitud 833, kuvan 276 - 300

eelmine
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
järgmine

1. Ubar, Raimund-Johannes 1941
2. Räämet, Raimund 1918-2004
3. Aare, Johannes 1915-2000
4. Ahrenschild, Johannes (-1936)
5. Alaots, Johannes
6. Aljak, Arnold Johannes
7. Allik, Erich-Johannes
8. Avik, Eduard Johannes
9. Drechsler, Wolfgang Johannes Max
10. Ehala, Johannes 1986
11. Hint, Johannes 1914-1985
12. Johannes, Ille 1939
13. Johannson, Johannes
14. Johanson, Johannes
15. Juhans, Johannes 1874-1956
16. Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
17. Kiiwet, Johannes
18. Kiivet, Johannes 1879-1967
19. Kivit, Johannes
20. Kollist, Johannes 1884-1937
21. Kollist, Johannes Theodor
22. Korv, August Johannes 1911-1981
23. Krimmer, Robert Johannes
24. Käpp, Martin Johannes
25. Langel, Johannes 1900-1985
26. Langell, Johannes
27. Livländer, Robert Johannes
28. Madise, Johannes 1920
29. Meitre, Johannes 1906-1978
30. Messer, Johannes
31. Mäll, Johannes 1911-1981
32. Mühlman, Johannes
33. Mühlmann, Johannes 1888-1936
34. Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
35. Nuudi, Johannes 1895-1975
36. Palo, Johannes 1925-1960
37. Pals, Johannes 1903-1941
38. Pello, Johannes 1958
39. Pervik, Johannes 1892-1958
40. Presmann, Johannes 1942
41. Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
42. Püümann, Mait Johannes
43. Roes, Johannes 1914
44. Russwurm, Johannes
45. Russvurm, Johannes 1855-1939
46. Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
47. Sakeus, Johannes 1880-1934
48. Taimsalu, Johannes 1891-1942
49. Teiman, Johannes
50. Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
51. Tomson, Johannes
52. Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
53. Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
54. Verus, Johannes Voldemar
55. Vuhk, Oskar Johannes

1. Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2. Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3. Räämet, Raimund, 1918-2004
4. Aare, Johannes, 1915-2000
5. Aavik, Johannes, 1880-1973
6. Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7. Bender, Naatan Johannes
8. Granö, Johannes Gabriel
9. Hint, Johannes, 1914-1985
10. Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
11. Kert, Johannes
12. Kiivet, Johannes, 1879-1967
13. Kollist, Johannes
14. Käis, Johannes
15. Lang, Johannes
16. Maide, Johannes Voldemar
17. Mossov, Johannes
18. Pals, Johannes, 1903-1941
19. Pello, Johannes
20. Putk, Aksel-Johannes
21. Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
22. Steinbrunn, Johannes
23. Taimsalu, Johannes, 1891-1942
24. Talu, Martin Johannes
25. Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
26. Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
27. Voll, Johannes

1. Johannes Mittus, vasevalamise tööstus

vaste

reasta

Otsing
Valikud 0

ilmumisaasta

autor

TTÜ struktuuriüksus

märksõna

seeria-sari

tema kohta

võtmesõna

TalTech Raamatukogu

Akadeemia tee 1

13519

TalTech koduleht TalTech Raamatukogu koduleht Digikogu Digiteek Teadusandmed

6203551

data@taltech.ee

TalTech Raamatukogu