Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms
vastutusandmed
E.Ivask, R.Ubar, J.Raik
allikas
ilmumiskoht
Cascais
ilmumisaasta
leheküljed
p. 319-320
märksõna
keel
inglise
Ivask, E., Ubar, R., Raik, J. Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms // IEEE European Test Workshop. Cascais, 2000. p. 319-320.