Ivask, E., Ubar, R., Raik, J. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms

autor

Ivask, Eero

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

E.Ivask, R.Ubar, J.Raik

allikas

IEEE European Test Workshop

ilmumiskoht

Cascais

ilmumisaasta

2000

leheküljed

p. 319-320

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

elektriahelad

testimine

algoritmid

vead

Ivask, E., Ubar, R., Raik, J. Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms // IEEE European Test Workshop. Cascais, 2000. p. 319-320.