Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
Leitud autorid
Jenihhin, Maksim 1981
CV
autor
juhendaja
toimetaja
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
159
Vaata veel..
(3/30)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(159)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
76
artikkel ajakirjas
Identification and rejuvenation of NBTI-critical logic paths in nanoscale circuits
Jenihhin, Maksim
;
Squillero, Giovanni
;
Tihhomirov, Valentin
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 273-289 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5589-x
artikkel ajakirjas
77
artikkel kogumikus
Identification and rejuvenation of NBTI-critical paths in nanoscale logic circuits
Jenihhin, Maksim
1st International Workshop on Reliability and Aging in Forthcoming Electronic Systems : May 28-29, 2015, Cluj-Napoca, Romania
2015
/
[1] p
artikkel kogumikus
78
artikkel kogumikus
Identifying NBTI-critical paths in nanoscale logic
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vargas, Fabian
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
;
Bolzani Poehls, Leticia
16th Euromicro Conference series on Digital System Design : DSD 2013 : proceedings : 4-6 September 2013, Santander, Spain
2013
/
p. 136-141 : ill
artikkel kogumikus
79
artikkel ajakirjas
Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints
Viilukas, Taavi
;
Karputkin, Anton
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Fujiwara, Hideo
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2012
/
p. 511-521 : ill
artikkel ajakirjas
80
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
2020
/
p. 646-650
https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105
artikkel kogumikus
81
artikkel kogumikus
Implementation-independent functional test generation for RISC microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
VLSI-SoC 2019 : 27th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration : [proceedings]
2019
/
p. 82-87 : ill
https://doi.org/10.1109/VLSI-SoC.2019.8920323
artikkel kogumikus
82
artikkel kogumikus
Implementation-independent test generation for a large class of faults in RISC processor modules
Jenihhin, Maksim
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
24th Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)
2021
https://doi.org/10.1109/DSD53832.2021.00090
artikkel kogumikus
83
artikkel kogumikus
An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architecture
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Peng, Z.
5th IEEE Latin-American Test Workshop - LATW 2004 : Cartagena, Colombia, 2004 : digest of papers
2004
/
p. 98-103 : ill
artikkel kogumikus
84
artikkel kogumikus
An iterative approach to test time minimization for parallel hybrid BIST architectures
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Peng, Z.
System-on-Chip Conference 2004 : Bastad, Sweden
2004
/
p. ?
artikkel kogumikus
85
artikkel kogumikus
JÄNES : a NAS framework for ML-based EDA applications
Selg, Hardi
;
Jenihhin, Maksim
;
Ellervee, Peeter
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
2021
https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568321
artikkel kogumikus
86
artikkel kogumikus
Layout to logic defect analysis for hierarchical test generation
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pleskacz, Witold A.
;
Rakowski, Michal
Proceedings of the 2007 IEEE Workshop on Design and Diagnostic Circuits and Systems : April 11-13, 2007, Krakow, Poland
2007
/
p. 35-40 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DDECS.2007.4295251
artikkel kogumikus
87
artikkel kogumikus
Localization of bugs in processor designs using zamiaCAD framework
Tšepurov, Anton
;
Tihhomirov, Valentin
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
13th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV 2012) Common Challenges and Solutions : Austin, USA, December 10–12, 2012
2012
/
p. 1-6
artikkel kogumikus
88
artikkel kogumikus
Measuring and identifying aging-critical paths in FPGAs
Pfeifer, Petr
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Pliva, Zdenek
MEDIAN 2015 : the 4th Workshop on Manufacturable and Dependable Multicore Architectures at Nanoscale : March 13, 2015, Grenoble, France
2015
/
p. 56-61 : ill
artikkel kogumikus
89
artikkel kogumikus
A methodology for automated mining of compact and accurate assertion sets
Heidari Iman, Mohammadreza
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Jervan, Gert
;
Ghasempouri, Tara
2021 IEEE Nordic Circuits and Systems Conference (NorCAS) : Oslo, Norway, October 26-27
2021
/
7 p. : ill
https://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=9599865
https://doi.org/10.1109/NorCAS53631.2021.9599865
artikkel kogumikus
90
artikkel ajakirjas
Mixed hierarchical-functional fault models for targeting sequential cores
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Viilukas, Taavi
;
Jenihhin, Maksim
Journal of systems architecture
2008
/
3/4, p. 465-477 : ill
artikkel ajakirjas
91
artikkel kogumikus
Mixed-level identification of fault redundancy in microprocessors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
LATS 2019 : 20th IEEE Latin American Test Symposium : Santiago, Chile, March 11th - 13th 2019
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2019.8704591
artikkel kogumikus
92
artikkel kogumikus
MLC: a machine learning based checker for soft error detection in embedded processors
Nosrati, Nooshin
;
Jenihhin, Maksim
;
Navabi, Zainalabedin
Proceedings - 2022 IEEE 28th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2022
2022
/
Code 183305
https://doi.org/10.1109/IOLTS56730.2022.9897309
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
93
artikkel kogumikus
Modeling for multi-view interference analysis of design aspects in MPSoC designs
Vain, Jüri
;
Apneet Kaur
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
RESCUE 2017 : Workshop on Reliability, Security and Quality : ETS17 Fringe Workshop, May 25-26, 2017, Limassol, Cyprus
2017
/
p. 1-6
http://www.ets17.org.cy/workshop/rescue-workshop.html
artikkel kogumikus
94
artikkel kogumikus
Modeling gate-level abstraction hierarchy using graph convolutional neural networks to predict functional de-rating factors
Balakrishnan, Aneesh
;
Lange, Thomas
;
Glorieux, Maximilien
;
Alexandrescu, Dan
;
Jenihhin, Maksim
2019 NASA/ESA conference on adaptive hardware and systems AHS 2019 : proceedings
2019
/
p. 72-78 : ill
https://doi.org/10.1109/AHS.2019.00007
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
95
artikkel kogumikus
Modeling microprocessor faults on high-level decision diagrams [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Jenihhin, Maksim
;
Istenberg, Martin
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
DSN 2008 : supplemental : 2008 IEEE International Conference on Dependable Systems & Networks With FTCS & DCC (DSN) : June 24-27, 2008, Anchorage, Alaska
2008
/
p. C17-C22 : ill. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
96
artikkel kogumikus
Modeling soft-error reliability under variability
Balakrishnan, Aneesh
;
Cardoso Medeiros, Guilherme
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Hamdioui, Said
;
Jenihhin, Maksim
;
Alexandrescu, Dan
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) : 6-8 Oct. 2021
2021
/
p. 1-6
https://doi.org/10.1109/DFT52944.2021.9568295
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
A synthetic, hierarchical approach for modelling and managing complex systems' quality and reliability = Sünteetiline, hierarhiline lähenemine keerukate süsteemide kvaliteedi ja töökindluse modelleerimiseks ja haldamiseks
97
artikkel kogumikus
Multi-fragment Markov model guided online test generation for MPSoC
Vain, Jüri
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Kharchenko, Vyacheslav
;
Apneet Kaur
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
ICTERI 2017 : ICT in Education, Research and Industrial Applications. Integration, Harmonization and Knowledge Transfer : proceedings of the 13th International Conference on ICT in Education, Research and Industrial Applications. Integration, Harmonization and Knowledge Transfer, Kyiv, Ukraine, May 15-18, 2017
2017
/
p. 594-607 : ill
http://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-85020540459&partnerID=40&md5=af226e25c344c52689f23bf5c39cc267
http://ceur-ws.org/Vol-1844/10000594.pdf
artikkel kogumikus
98
artikkel kogumikus
Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource]
Vain, Jüri
;
Apneet Kaur
;
Tsiopoulos, Leonidas
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
2018
/
4 p.: ill
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986
artikkel kogumikus
99
artikkel kogumikus
Mutation analysis for systemC designs at TLM
Guarnieri, Valerio
;
Bombieri, Nicola
;
Pravadelli, Graziano
;
Fummi, Franco
;
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 2011
2011
/
[6] p
artikkel kogumikus
100
artikkel kogumikus
Mutation analysis with high-level decision diagrams
Hantson, Hanno
;
Raik, Jaan
;
Jenihhin, Maksim
;
Tšepurov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Guglielmo, Giuseppe di
;
Fummi, Franco
LATW2010 : 11th Latin-American TestWorkshop, March 28-31, 2010, Punta del Este, Uruguay
2010
/
[6] p. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 159, kuvan
76 - 100
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
järgmine
autor
15
1.
Jenihhin, Maksim
2.
Andrijaškin, Maksim
3.
Antonov, Maksim
4.
Butsenko, Maksim
5.
Gorev, Maksim
6.
Maksim, Antonov
7.
Maksim, I.
8.
Maksim, Tiit
9.
Mõttus, Maksim
10.
Ošeka, Maksim
11.
Radzvilovits, Maksim
12.
Ruchkin, Maksim
13.
Saat, Maksim
14.
Säkki, Maksim
15.
Zelenski, Maksim
CV
9
1.
Jenihhin, Maksim 1981
2.
Antonov, Maksim 1978
3.
Butsenko, Maksim
4.
Gazizov, Maksim 1918
5.
Oseka, Maksim
6.
Osheka, Maksim
7.
Ošeka, Maksim 1988
8.
Saat, Maksim 1944
9.
Säkki, Maksim 1977
tema kohta
6
1.
Jenihhin, Maksim
2.
Antonov, Maksim
3.
Butsenko, Maksim
4.
Gorev, Maksim
5.
Gorki, Maksim, pseud., 1868-1936
6.
Saat, Maksim
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT