Mutation analysis for systemC designs at TLM
autor
vastutusandmed
Valerio Guarnieri, Nicola Bombieri, Graziano Pravadelli, Franco Fummi, Hanno Hantson, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar
allikas
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 2011
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
[6] p
konverentsi nimetus, aeg
12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW), 27-30 March 2011
konverentsi toimumispaik
Porto de Galinhas, Brasil
ISBN
978-1-4577-1489-4
märkused
Bibliogr.: 14 ref
keel
inglise
märksõna
võtmesõna
Guarnieri, V., Bombieri, N., Pravadelli, G., Fummi, F., Hantson, H., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R. Mutation analysis for systemC designs at TLM // 12th IEEE Latin American Test Workshop (LATW) : Porto de Galinhas, Brasil, 27-30 March 2011. [S.l.] : IEEE, 2011. [6] p. https://ieeexplore.ieee.org/document/5985925