prindi

Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors

autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Ubar, Raimund-Johannes
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2020
leheküljed
p. 646-650
konverentsi nimetus, aeg
Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2020, 26-28 August 2020
konverentsi toimumispaik
Kranj, Slovenia
leitav
https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105
märksõna
mikroprotsessorid
diagnostika (tehnika)
modelleerimine (teadus)
testimine
võtmesõna
microprocessors
functional fault model
test generation
ISBN
978-1-7281-9535-3
märkused
Bibliogr.: 33 ref
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Oyeniran, A.S., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors // 2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia. Danvers : IEEE, 2020. p. 646-650. https://doi.org/10.1109/DSD51259.2020.00105