Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik
allikas
ilmumiskoht
Danvers
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 646-650
konverentsi nimetus, aeg
Euromicro Conference on Digital System Design : DSD 2020, 26-28 August 2020
konverentsi toimumispaik
Kranj, Slovenia
ISBN
978-1-7281-9535-3
märkused
Bibliogr.: 33 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Oyeniran, A.S., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J. Implementation-independent functional test for transition delay faults in microprocessors // 2020 23rd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD), 26-28 August 2020, Kranj, Slovenia. Danvers : IEEE, 2020. p. 646-650.