Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
atomic force microscopy (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/48)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel ajakirjas
Growth dynamics of nanocrystalline diamond films produced by microwave plasma enhanced chemical vapor deposition in methane/hydrogen/air mixture : scaling analysis of surface morphology
Podgurski, Vitali
;
Bogatov, Andrei
;
Sedov, V.
;
Sildos, Ilmo
;
Mere, Arvo
;
Viljus, Mart
;
Buijnsters, J. G.
;
Ralchenko, V.
Diamond and related materials
2015
/
p. 172-179 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.diamond.2015.07.002
artikkel ajakirjas
2
artikkel ajakirjas
Thermal annealing of sequentially deposited SnS thin films
Safonova, Maria
;
Nair, Padmanabhan Pankajakshy Karunakaran
;
Mellikov, Enn
;
Aragon, Rebeca
;
Kerm, Karin
;
Naidu, Revathi
;
Mikli, Valdek
;
Volobujeva, Olga
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences
2015
/
p. 488-494 : ill
http://dx.doi.org/10.3176/proc.2015.4.04
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
48
1.
atomic force microscopy
2.
atomic force microscopy (AFM)
3.
cryoelectron microscopy single-particle analysis
4.
electron microscopy
5.
Fluorescence microscopy
6.
light microscopy
7.
microscopy
8.
microscopy image analysis
9.
optical microscopy
10.
scanning electron microscopy
11.
TIRF microscopy
12.
transmission electron microscopy
13.
atomic layer deposition
14.
atomic layer deposition (ALD)
15.
atomic NFA
16.
atomic oxygen irradiation
17.
atomic structure
18.
atomic structures
19.
atomic weight
20.
Bio-active™ multi-force archwires
21.
brute-force
22.
coercive force
23.
compressive ice force
24.
covalent intermolecular force
25.
electromagnetic force
26.
electromotive force (EMF) calculation
27.
force
28.
force control
29.
force feedback
30.
force field calculations
31.
force measurement
32.
force plates
33.
gavitational force
34.
gravitational force
35.
illocutionary force
36.
impact force
37.
impact force debris
38.
labour force
39.
lift force
40.
lifting force
41.
linear oscillating electromagnetic force
42.
Lorenz force
43.
multi-force orthodontic wires
44.
radial force
45.
senior work force
46.
underwater force measurements
47.
use of force
48.
wind force model
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT