Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Jutman, Artur (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
160
Vaata veel..
(5/79)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(160)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
101
artikkel kogumikus
On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Tsertov, Anton
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562
artikkel kogumikus
102
artikkel kogumikus
On-line fault classification and handling in IEEE1687 based fault management system for complex SoCs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
LATS 2016 : 17th IEEE Latin-American Test Symposium, Foz do Iguacu, Brazil, 6th-9th April 2016
2016
/
p. 69-74 : ill
https://doi.org/10.1109/LATW.2016.7483342
artikkel kogumikus
103
artikkel ajakirjas
Open-source JTAG simulator bundle for labs
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
;
Rosin, Vjatšeslav
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
International journal of electronics and telecommunications
2012
/
p. 233-239 : ill
https://journals.pan.pl/Content/87192/PDF/32.pdf
artikkel ajakirjas
104
artikkel ajakirjas
Optimization of boundary scan tests using FPGA-based efficient scan architectures
Aleksejev, Igor
;
Devadze, Sergei
;
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 245-255 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5588-y
artikkel ajakirjas
105
artikkel kogumikus
Optimization of structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Vassiljeva, T.
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
;
Tombak, Mati
;
Peder, Ahti
Proceedings of the Fourth IASTED International Conference on Modelling, Simulation, and Optimization : August 17-19, 2004, Kavai, Hawaii, USA
2004
/
p. 234-240 : ill
artikkel kogumikus
106
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Microelectronics education : proceedings of the 5th European Workshop on Microelectronics Education, held in Lausanne, Switzerland, April 15-16, 2004
2004
/
p. 253-258 : ill
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
107
artikkel kogumikus
Overview of e-learning environment for web-based study of testing and diagnostics of digital systems
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
5th European Workshop on Microelectronics Education - EWME 2004, Lausanne, 2004
2004
/
p. 173-176
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4020-2651-5_41
artikkel kogumikus
108
artikkel kogumikus
Parallel exact critical path tracing fault simulation with reduced memory requirements
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
4th International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscal Era : DTIS'09 : Cairo, Egypt, April 6-9, 2009
2009
/
p. 155-160 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/4938046
artikkel kogumikus
109
artikkel kogumikus
Parallel fault backtracing for calculation of fault coverage
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
43rd International Conference on Microelectronics, Devices and Materials and the Workshop on Electronic Testing : September 12. - September 14.2007, Bled, Slovenia : MIDEM conference 2007 proceedings
2007
/
p. 165-170 : ill
artikkel kogumikus
110
artikkel kogumikus
Parallel fault backtracing for calculation of fault coverage
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
Proceedings of the ASP-DAC 2008 : [13th] Asia and South Pacific Design Automation Conference 2008 : January 21-24, 2008, COEX, Seoul, Korea
2008
/
p. 667-672 : ill
https://www.researchgate.net/publication/221153650_Parallel_fault_backtracing_for_calculation_of_fault_coverage
artikkel kogumikus
111
artikkel kogumikus
Parallel X-fault simulation with critical path tracing technique [Electronic resource]
Ubar, Raimund-Johannes
;
Devadze, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Jutman, Artur
DATE 10 : Design, Automation & Test in Europe : Dresden, Germany, 8-12 March, 2010
2010
/
p. 879-884 [CD-ROM]
https://www.researchgate.net/publication/221341788_Parallel_X-fault_simulation_with_critical_path_tracing_technique
artikkel kogumikus
112
artikkel kogumikus
Post-silicon validation of IEEE 1687 reconfigurable scan networks
Damljanovic, Aleksa
;
Jutman, Artur
;
Squillero, Giovanni
;
Tšertov, Anton
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791546
artikkel kogumikus
113
artikkel kogumikus
Practical works for on-line teaching design and test of digital circuits
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Hahanov, V.
;
Skvortsova, O.
The 9th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : ICECS 2002 : September 15-18, 2002, Dubrovnik, Croatia. Volume III
2002
/
p. 1223-1226 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2002.1046474
artikkel kogumikus
114
artikkel kogumikus
Reliable health monitoring and fault management infrastructure based on embedded instrumentation and IEEE 1687
Jutman, Artur
;
Shibin, Konstantin
;
Devadze, Sergei
IEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings
2016
/
p. 240-249 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589605
artikkel kogumikus
115
artikkel kogumikus
Research environment for teaching digital test
Ivask, Eero
;
Jutman, Artur
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
Synergies between Information and Automation : 49. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 27.-30.9.2004, Technische Universität Ilmenau, Germany. Volume 2
2004
/
p. 468-473 : ill
artikkel kogumikus
116
artikkel ajakirjas
Research in digital design and test at Tallinn University of Technology
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jervan, Gert
;
Jutman, Artur
;
Raik, Jaan
;
Ellervee, Peeter
;
Kruus, Margus
Radioelectronics & informatics
2008
/
p. 4-12 : ill
http://www.ewdtest.com/ri/%E2%84%96-1-40-january-march-2008/
artikkel ajakirjas
117
artikkel kogumikus
Research on digital system design and test at Tallinn University of Technology
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ellervee, Peeter
;
Hollstein, Thomas
;
Jervan, Gert
;
Jutman, Artur
;
Kruus, Margus
;
Raik, Jaan
Research in Estonia : present and future
2011
/
p. 184-205 : ill
artikkel kogumikus
118
artikkel kogumikus
Reseeding using compaction of pre-generated LFSR sequences
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
ICECS 2008 : The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : 31st August to 3rd September 2008, Malta : conference guide
2008
/
p. 215
artikkel kogumikus
119
artikkel kogumikus
Reseeding using compaction of pre-generated LFSR sub-sequences
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
ICECS 2008 : The 15th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems : Malta
2008
/
p. 1290-1295 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/ICECS.2008.4675096
artikkel kogumikus
120
artikkel kogumikus
Re-using chip level DFT at board level
Gu, Xinli
;
Jutman, Artur
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th–June 1st, 2012, Annecy, France
2012
/
1 p
artikkel kogumikus
121
artikkel kogumikus
Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
IEEE AUTOTESTCON 2016 : Anaheim, California, USA, September 12-15, 2016 : proceedings
2016
/
p. 385-392 : ill
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2016.7589627
artikkel kogumikus
122
artikkel ajakirjas
Run-time reconfigurable instruments for advanced board-level testing
Aleksejev, Igor
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
IEEE instrumentation & measurement magazine
2017
/
p. 23-30 : ill
https://doi.org/10.1109/MIM.2017.8006390
artikkel ajakirjas
123
dissertatsioon
Selected issues of modeling, verification and testing of digital systems
Jutman, Artur
2004
https://www.ester.ee/record=b1989760*est
dissertatsioon
124
artikkel kogumikus
Sequential test set compaction in LFSR reseeding
Jutman, Artur
;
Aleksejev, Igor
;
Raik, Jaan
Design and test technology for dependable systems-on-chip
2011
/
p. 476-493 : ill
artikkel kogumikus
125
artikkel kogumikus
Shift register based TPG for at-speed interconnect BIST
Jutman, Artur
MIEL 2004 : 24th International Conference on Microelectronics : Niš, Serbia and Montenegro, 16-19 May 2004 : proceedings. Volume 2
2004
/
p. 751-754 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 160, kuvan
101 - 125
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
järgmine
autor
32
1.
Jutman, Artur
2.
Jutman, Valentin
3.
Abdullin, Artur
4.
Abels, Artur
5.
Adson, Artur
6.
Alliksaar, Artur
7.
Binczewski, Artur
8.
Dahlberg, Artur
9.
Hain, Artur
10.
Izumrudov, Artur
11.
Jugaste, Artur
12.
Jõgi, Artur
13.
Jürvetson, Artur
14.
Keller, Artur
15.
Kivikas, Artur
16.
Klauson, Artur
17.
Lavrov, Artur
18.
Leetberg, Artur
19.
Liefländer, Artur
20.
Linari-Linholm, Artur
21.
Lobov, Artur
22.
Luha, Artur Heinrich
23.
Mägi, Artur
24.
Nilson, Artur
25.
Noole, Artur
26.
Puksov, Artur
27.
Rieger, Artur
28.
Ruszczak, Artur
29.
Rätsep, Artur
30.
Talvik, Artur
31.
Toikka, Artur
32.
Tooman, Artur
CV
24
1.
Jutman, Artur 1976
2.
Jutman, Valentin 1938
3.
Georgin, Artur
4.
Hain, Artur 1925-2011
5.
Jõgi, Artur 1978
6.
Klauson, Artur 1995
7.
Laksberg, Artur 1975
8.
Leetberg, Artur 1886-1969
9.
Leetna, Karl Artur
10.
Liefländer, Artur
11.
Linari-Linholm, Artur A. 1903-1983
12.
Linari-Linholm, Artur Aleksander
13.
Luha, Artur Heinrich 1892-1953
14.
Luhha, Artur Heinrich
15.
Mitsulis, Artur 1981
16.
Mitšulis, Artur
17.
Noole, Artur 1985
18.
Perna, Artur (-1939)
19.
Perna, Artur 1881-1940
20.
Pihlak, Artur Aleksander 1885-1941
21.
Pärna, Artur 1915-1943
22.
Sagarov, Artur
23.
Toikka, Artur 1998
24.
Šagarov, Artur
tema kohta
21
1.
Jutman, Artur
2.
Andersalu, Artur
3.
Georgin, Artur Mihkel, 1891-1954
4.
Hain, Artur
5.
Lavrov, Artur
6.
Lessner, Artur
7.
Linari-Linholm, Artur, 1903-1983
8.
Lind, Artur
9.
Lind, Artur, 1927-1989
10.
Luha, Artur Heinrich, 1892-1953
11.
Mihhailov, Artur
12.
Noole, Artur
13.
Ojasalu, Artur
14.
Perna, Artur, 1881-1940
15.
Pihlak, Artur-Aleksander, 1885-1941
16.
Prees, Artur
17.
Pärna, Artur
18.
Saaliste, Artur
19.
Sagarov, Artur
20.
Talvik, Artur, 1964-
21.
Vassar, Artur, 1911-1977
märksõna
1
1.
Artur Uin ja Ko, veinitööstus
TTÜ märksõna
1
1.
Perna, Artur, 1881-1940
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT