Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Ubar, Raimund-Johannes (autor)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
836
Vaata veel..
(4/138)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(836)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
101
artikkel kogumikus
Built-in self diagnosis with multiple signature analyzers in digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings of the 9th IEEE Latin-American Test Workshop : LATW2008 : February 17-20, 2008, Puebla, Mexico
2008
/
p. 29-34 : ill
artikkel kogumikus
102
artikkel kogumikus
CAD für Digitaltechnik - eine Programmfamilie für den Entwurf von Testmustern zum Test von Digitalschaltungen
Ubar, Raimund-Johannes
IBM Hochschulkongress '92: Offene Grenzen - offene Systeme, Dresden, 30.09-2.10.1992
1992
/
S.IV9 1-14
artikkel kogumikus
103
artikkel kogumikus
CAD software for digital test and diagnostics
Jervan, Gert
;
Markus, Antti
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of International Conference on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, Ostrava, Czech Republik, May 12-14, 1997
1997
/
p. 35-40
artikkel kogumikus
104
artikkel kogumikus
A CAD system for teaching digital test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Ivask, Eero
;
Paomets, Priidu
;
Raik, Jaan
BEC : Baltic Electronics Conference : proceedings of the 4th Biennial Conference, October 9-14, 1994, Tallinn (Estonia). 1
1994
/
p. 369-372: ill
artikkel kogumikus
105
artikkel kogumikus
Calculation of LFSR seed and polynomial pair for BIST applications
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK kolmanda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. aprill 2008, Voore külalistemaja
2008
/
p. 105-108 : ill
artikkel kogumikus
106
artikkel kogumikus
Calculation of LFSR seed and polynomial pair for BIST applications [Electronic resource]
Jutman, Artur
;
Tšertov, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
2008
/
p. 275-279 : ill. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
107
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Calculation of probabilistic testability measures for digital circuits with Structurally Synthesized BDDs
Jürimägi, Lembit
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
Microprocessors and microsystems
2020
/
art. 103117, 12 p
https://doi.org/10.1016/j.micpro.2020.103117
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
108
artikkel kogumikus
Calculation of testability measures on structurally synthesized binary decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Heinlaid, J.
;
Raik, Jaan
;
Raun, L.
BEC'98 : the 6th Biennial Conference on Electronics and Microsystems Technology, October 7-9, 1998, Tallinn, Estonia : proceedings
1998
/
p. 179-182: ill
artikkel kogumikus
109
artikkel kogumikus
Calculation of the diagnosibility of digital circuits without using fault models
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
BEC 2008 : 2008 International Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 11th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology : October 6-8, 2008, Tallinn, Estonia
2008
/
p. 159-162 : ill
artikkel kogumikus
110
artikkel ajakirjas
Canonical representations of high-level decision diagrams
Karputkin, Anton
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
;
Tombak, Mati
Estonian journal of engineering
2010
/
1, p. 39-55 : ill
artikkel ajakirjas
111
artikkel ajakirjas
Case study in testing digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Baltic electronics
1995
/
1, p. 24-27
artikkel ajakirjas
112
artikkel ajakirjas
CEBE - Centre for Integrated Electronic Systems and Biomedical Engineering
Fridolin, Ivo
;
Min, Mart
;
Ubar, Raimund-Johannes
The parliament magazine's research review : European research & innovation
2009
/
p. 35
artikkel ajakirjas
113
artikkel ajakirjas
Centre for Integrated Electronic Systems and Biomedical Engineering - CEBE
Ubar, Raimund-Johannes
Estonian journal of engineering
2010
/
1, p. 7-10 : ill
artikkel ajakirjas
114
artikkel kogumikus
Challenges for future system-on-chip design
Hollstein, Thomas
;
Peng, Zebo
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Glesner, Manfred
Circuit Paradigm in the 21st Century : ECCTD '01 : proceedings of the 15th European Conference on Circuit Theory and Design : Helsinki University of Technology, Finland, 28th-31st August 2001. Vol 3
2001
/
p. 173-176
artikkel kogumikus
115
artikkel kogumikus
CMOS defects analysis using DefSim measurement environment
Pleskacz, Witold A.
;
Borejko, Tomasz
;
Walkanis, A.
;
Stopjakova, Viera
;
Jutman, Artur
;
Ubar, Raimund-Johannes
Informal Digest of Papers : Eleventh IEEE European Test Symposium : ETS 2006 : 21-24 May 2006, Southampton, United Kingdom
2006
/
p. 241-246 : ill
artikkel kogumikus
116
artikkel kogumikus
Code coverage analysis for concurrent programming languages using high-level decision diagrams
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Tšepurov, Anton
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings of the 12th European Workshop on Dependable Computing : EWDC 2009 : Toulouse, France, May 14-15, 2009
2009
/
[4] p. : ill
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00381559
artikkel kogumikus
117
artikkel kogumikus
Code coverage analysis using high-level decision diagrams [Electronic resource]
Raik, Jaan
;
Reinsalu, Uljana
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Ellervee, Peeter
2008 IEEE Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : Bratislava, Slovakia, April 16-18, 2008
2008
/
p. 201-207 : ill. [CD-ROM]
artikkel kogumikus
118
artikkel kogumikus
Collaborative distributed computing in the field of digital electronics testing
Ivask, Eero
;
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Balanced Automation Systems for Future Manufacturing Networks : 9th IFIP WG 5.5 International Conference : BASYS 2010 : Valencia, Spain, July 21-23, 2010 : proceedings
2010
/
p. 145-152
artikkel kogumikus
119
artikkel kogumikus
Collaborative distributed fault simulation for digital electronic circuits
Ivask, Eero
;
Devadze, Sergei
;
Ubar, Raimund-Johannes
Intelligent Distributed Computing IV : proceedings of the 4th International Symposium on Intelligent Distributed Computing - IDC 2010 : Tangier, Morocco, September 2010
2010
/
p. 67-76
artikkel kogumikus
120
artikkel kogumikus
Combinational fault simulation in sequential circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kõusaar, Jaak
;
Gorev, Maksim
;
Devadze, Sergei
2015 IEEE International Symposium on Circuits and Systems : 24-27 May 2015, Lisboa, Portugal : [proceedings]
2015
/
p. 2876-2879 : ill
artikkel kogumikus
121
artikkel kogumikus
Combined fault-model free cause-effect and effect-cause fault diagnosis in block-level digital networks
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
ASQED'09 : 1st Asia Symposium on Quality Electronic Design : Kuala Lumpur, Malaisia, July 15-16, 2009
2009
/
p. 385-390
https://ieeexplore.ieee.org/document/5206232
artikkel kogumikus
122
artikkel kogumikus
Combined pseudo-exhaustive and deterministic testing of array multipliers
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Azad, Siavoosh Payandeh
;
Ubar, Raimund-Johannes
2018 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 21st edition, 24th-26th May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2018
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/AQTR.2018.8402708
artikkel kogumikus
123
artikkel kogumikus
Combining dynamic slicing and mutation operators for ESL correction
Repinski, Urmas
;
Hantson, Hanno
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Proceedings : 2012 17th IEEE European Test Symposium (ETS) : May 28th-June 1st, 2012, Annecy, France
2012
/
[6] p. : ill
artikkel kogumikus
124
artikkel ajakirjas
Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
Microelectronics reliability
1998
/
3, p. 317-329 : ill
artikkel ajakirjas
125
artikkel kogumikus
Combining learning, training and research in laboratory course for design and test
Ubar, Raimund-Johannes
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
;
Wuttke, Heinz-Dietrich
The 7th Biennial Conference on Electronics and Microsystem Technology "Baltic Electronics Conference" : BEC 2000 : October 8 - 11, 2000, Tallinn, Estonia : conference proceedings
2000
/
p. 221-224 : ill
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 836, kuvan
101 - 125
eelmine
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
järgmine
autor
55
1.
Ubar, Raimund-Johannes
2.
Hagelberg, Raimund
3.
Räämet, Raimund
4.
Aare, Johannes
5.
Avik, Eduard Johannes
6.
Bauer, Johannes
7.
Bender, Naatan Johannes
8.
Buchmann, Johannes
9.
Deelstra, Johannes
10.
Ehala, Johannes
11.
Engelmayer, Johannes
12.
Gotzmann, Johannes
13.
Helander, Johannes
14.
Hint, Johannes
15.
Hüsse, Johannes
16.
Johannes, Anu
17.
Johannes, Ellen
18.
Johannes, Ille
19.
Johannes, Kaljo-Mihkel
20.
Järv, Johannes
21.
Kadak, Johannes
22.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes
23.
Kerkhoven, Eduard Johannes
24.
Kiivet, Johannes
25.
Krimmer, Robert Johannes
26.
Kukebal, Johannes
27.
Meitre, Johannes
28.
Miller, Johannes
29.
Mühlman, Johannes
30.
Norberg, Johannes
31.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus
32.
Ortlepp, Johannes
33.
Parikas, Johannes
34.
Pello, Johannes
35.
Pervik, Johannes-Eduard
36.
Piiper, Johannes
37.
Presmann, Johannes
38.
Putk, Aksel-Johannes
39.
Pätsch, Johannes
40.
Saar, Johannes
41.
Sautter, Johannes
42.
Sinisalo, Touko Johannes
43.
Steinbrunn, Johannes
44.
Sutt, Johannes
45.
Zeiringer, Johannes Paul
46.
Taimsalu, Johannes
47.
Talu, Martin Johannes
48.
Tammekänd, Johannes
49.
Tilk, Johannes
50.
Tralla, Johannes
51.
Veerus, Johannes
52.
Vibur, Johannes Ferdinand
53.
Vind, Johannes
54.
Voll, Johannes
55.
Voltri, Johannes
CV
55
1.
Ubar, Raimund-Johannes 1941
2.
Räämet, Raimund 1918-2004
3.
Aare, Johannes 1915-2000
4.
Ahrenschild, Johannes (-1936)
5.
Alaots, Johannes
6.
Aljak, Arnold Johannes
7.
Allik, Erich-Johannes
8.
Avik, Eduard Johannes
9.
Drechsler, Wolfgang Johannes Max
10.
Ehala, Johannes 1986
11.
Hint, Johannes 1914-1985
12.
Johannes, Ille 1939
13.
Johannson, Johannes
14.
Johanson, Johannes
15.
Juhans, Johannes 1874-1956
16.
Kajander, Aleksi Oskar Johannes 1994
17.
Kiiwet, Johannes
18.
Kiivet, Johannes 1879-1967
19.
Kivit, Johannes
20.
Kollist, Johannes 1884-1937
21.
Kollist, Johannes Theodor
22.
Korv, August Johannes 1911-1981
23.
Krimmer, Robert Johannes
24.
Käpp, Martin Johannes
25.
Langel, Johannes 1900-1985
26.
Langell, Johannes
27.
Livländer, Robert Johannes
28.
Madise, Johannes 1920
29.
Meitre, Johannes 1906-1978
30.
Messer, Johannes
31.
Mäll, Johannes 1911-1981
32.
Mühlman, Johannes
33.
Mühlmann, Johannes 1888-1936
34.
Notermans, Antonius Johannes Hubertus 1959
35.
Nuudi, Johannes 1895-1975
36.
Palo, Johannes 1925-1960
37.
Pals, Johannes 1903-1941
38.
Pello, Johannes 1958
39.
Pervik, Johannes 1892-1958
40.
Presmann, Johannes 1942
41.
Putk, Aksel-Johannes 1928-1999
42.
Püümann, Mait Johannes
43.
Roes, Johannes 1914
44.
Russwurm, Johannes
45.
Russvurm, Johannes 1855-1939
46.
Russvurm, Johannes Carl Gysbert Immanuel
47.
Sakeus, Johannes 1880-1934
48.
Taimsalu, Johannes 1891-1942
49.
Teiman, Johannes
50.
Teimann, Johannes Rudolf (kuni 22.05.1935)
51.
Tomson, Johannes
52.
Tuulre, Feliks Johannes 1908-1987
53.
Veerus, Johannes Voldemar 1897-1972
54.
Verus, Johannes Voldemar
55.
Vuhk, Oskar Johannes
tema kohta
27
1.
Ubar, Raimund-Johannes, 1941-
2.
Hagelberg, Raimund, 1927-2012
3.
Räämet, Raimund, 1918-2004
4.
Aare, Johannes, 1915-2000
5.
Aavik, Johannes, 1880-1973
6.
Avik, Eduard Johannes, 1891-1942
7.
Bender, Naatan Johannes
8.
Granö, Johannes Gabriel
9.
Hint, Johannes, 1914-1985
10.
Johannes Paulus II, paavst, 1920-2005
11.
Kert, Johannes
12.
Kiivet, Johannes, 1879-1967
13.
Kollist, Johannes
14.
Käis, Johannes
15.
Lang, Johannes
16.
Maide, Johannes Voldemar
17.
Mossov, Johannes
18.
Pals, Johannes, 1903-1941
19.
Pello, Johannes
20.
Putk, Aksel-Johannes
21.
Rammul, Aleksander Johannes, 1875-1949
22.
Steinbrunn, Johannes
23.
Taimsalu, Johannes, 1891-1942
24.
Talu, Martin Johannes
25.
Veerus, Johannes Voldemar, 1897-1972
26.
Veski, Johannes Voldemar, 1873-1968
27.
Voll, Johannes
märksõna
1
1.
Johannes Mittus, vasevalamise tööstus
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT