Otsing - TalTech teadusportaal

Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems (pealkiri)

—

—

—

—

Lisa tingimus Liitotsing filter

Tühista

teaviku laadid

raamat ..

artikkel ajakirjas ..

artikkel ajalehes ..

artikkel kogumikus ..

dissertatsioon ..

Open Access ..

Teaduspublikatsioon ..

aasta

Toon andmeid..

Toon andmeid..

TTÜ struktuuriüksus

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Toon andmeid..

Tühista

ekspordi kõik päringu tulemused (1)
Salvesta TXT fail

prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava valitud kirjed

kuva

reasta
1

artikkel ajakirjas

Combining functional and structural approaches in test generation for digital systemsUbar, Raimund-JohannesMicroelectronics reliability1998 / p. 317-329 : ill https://doi.org/10.1016/S0026-2714(97)00192-3

artikkel ajakirjas

Kirjeid leitud 1, kuvan 1 - 1