Viilukas, T., Karputkin, A., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Fujiwara, H.

täiskirje prindi

Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints

autor

Viilukas, Taavi

Karputkin, Anton

Raik, Jaan

Jenihhin, Maksim

Ubar, Raimund-Johannes

Fujiwara, Hideo

vastutusandmed

Taavi Viilukas, Anton Karputkin, Jaan Raik, Maksim Jenihhin, Raimund Ubar, Hideo Fujiwara

allikas

Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)

ajakirja aastakäik number kuu

Vol. 28, 4

ilmumisaasta

2012

leheküljed

p. 511-521 : ill

leitav

https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-012-5312-5

ISSN

0923-8174

märkused

Bibliogr.: 23 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

elektriahelad

vead

diagnostika (tehnika)

võtmesõna

automated test pattern generation

untestable faults

Viilukas, T., Karputkin, A., Raik, J., Jenihhin, M., Ubar, R., Fujiwara, H. Identifying untestable faults in sequential circuits using test path constraints // Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA) (2012) Vol. 28, 4, p. 511-521 : ill. https://link.springer.com/article/10.1007/s10836-012-5312-5