Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
Efficient hierarchical approach to test generation for digital systems (pealkiri)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
1
Vaata veel..
(1/28)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(1)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Efficient hierarchical approach to test generation for digital systems
Ubar, Raimund-Johannes
;
Raik, Jaan
IEEE ISQED 2000 : proceedings of the IEEE 2000 1st International Symposium on Quality Electronic Design : March 20-22, 2000, San Jose, California
2000
/
p. 189-195 : ill
https://ieeexplore.ieee.org/document/838873
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 1, kuvan
1 - 1
võtmesõna
28
1.
Hierarchical Multi-level Test Generation
2.
adaptive test strategy generation
3.
automated test pattern generation
4.
automatic test case generation
5.
automatic test pattern generation
6.
automatic test program generation
7.
behaviour level test generation
8.
functional test generation
9.
high-level test data generation
10.
highlevel test generation
11.
implementation-independent test generation
12.
offline test generation
13.
provably correct test generation
14.
test generation
15.
test generation and fault diagnosis
16.
Test Group Generation for Detecting Multiple Faults
17.
test program generation
18.
digital test
19.
Digital test and testable design
20.
distributed generation systems
21.
Cross-level Modeling of Faults in Digital Systems
22.
digital circuits and systems
23.
digital control systems
24.
digital product-service systems
25.
digital social systems
26.
digital systems
27.
High-level Decision Diagrams for Modeling Digital Systems
28.
teaching design and test of systems
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT