Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
elektronlülitused (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
64
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(64)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
26
artikkel kogumikus
Hierarchical identification of untestable faults in sequential circuits
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Krivenko, Anna
;
Kruus, Margus
10th Euromicro Conference on Digital System Design Architectures, Methods and Tools, DSD 2007 : 29-31 August 2007, Lübeck, Germany : proceedings
2007
/
p. 668-671 : ill
http://dx.doi.org/10.1109/DSD.2007.4341539
artikkel kogumikus
27
artikkel ajakirjas
Identification and rejuvenation of NBTI-critical logic paths in nanoscale circuits
Jenihhin, Maksim
;
Squillero, Giovanni
;
Tihhomirov, Valentin
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
Journal of electronic testing : theory and applications (JETTA)
2016
/
p. 273-289 : ill
http://dx.doi.org/10.1007/s10836-016-5589-x
artikkel ajakirjas
28
artikkel kogumikus
Identification and rejuvenation of NBTI-critical paths in nanoscale logic circuits
Jenihhin, Maksim
1st International Workshop on Reliability and Aging in Forthcoming Electronic Systems : May 28-29, 2015, Cluj-Napoca, Romania
2015
/
[1] p
artikkel kogumikus
29
raamat
Impulss-seadmed : laboratoorne töö nr. 5 : trigerid loogikaelementidel
1986
https://www.ester.ee/record=b1240931*est
raamat
30
raamat
Impulss-seadmed : laboratoorne töö nr. 8 : lineaarpinge generaator
1986
https://www.ester.ee/record=b2618544*est
raamat
31
raamat
Informal Digest of Papers : 10 IEEE European Test Symposium : Tallinn, Estonia, May 22-25, 2005
2005
https://www.ester.ee/record=b2055139*est
raamat
32
artikkel kogumikus
Investigating defects in digital circuits by Boolean differential equations
Kruus, Helena
;
Orasson, Elmet
;
Robal, Tarmo
;
Ubar, Raimund-Johannes
The 4th International Conference "Distance Learning - Educational Sphere of XXI Century" (DLESC'04)
2004
/
p. 432-435
artikkel kogumikus
33
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
Low frequency acoustic method to measure the complex bulk modulus of porous materials
Napolitano, Marialuisa
;
Di Giulio, Elio
;
Auriemma, Fabio
The Journal of the Acoustical Society of America
2022
/
art. 1545
https://doi.org/10.1121/10.0009767
Journal metrics at Scopus
Article at Scopus
Journal metrics at WOS
Article at WOS
artikkel ajakirjas EST
/
artikkel ajakirjas ENG
34
artikkel ajakirjas
Modeling and simulation of circuits with shared structurally synthesized BDDs
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Raik, Jaan
;
Viies, Vladimir
Microprocessors and microsystems
2017
/
p. 56-61 : ill
http://dx.doi.org/10.1016/j.micpro.2016.09.006
artikkel ajakirjas
35
artikkel kogumikus
Multiple control fault testing in digital systems with high-level decision diagrams
Ubar, Raimund-Johannes
;
Oyeniran, Adeboye Stephen
2016 IEEE International Conference on Automation, Quality and Testing, Robotics (AQTR) : THETA 20th edition : 19th-21st May, Cluj-Napoca, Romania : proceedings
2016
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/AQTR.2016.7501287
artikkel kogumikus
36
artikkel kogumikus
Multiple fault analyses in logic circuits
Ubar, Raimund-Johannes
IFAC-Symposium Discrete Systems : Dresden, 14.-19. 3. 77
1977
/
p. [?]
artikkel kogumikus
37
artikkel kogumikus
Organ bio-impedance modelling with 3D mesh of equivalent circuits
Gordon, Rauno
Proceedings of the XII International Conference on Electrical Bioimpedance & the V Conference on Electrical Impedance Tomography : ICEBI/EIT 2004 : June 20-24, 2004, Gdansk, Poland. Vol. 2
2004
/
p. 715-718
artikkel kogumikus
38
raamat
Proceedings of the 2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) : April 18-20, 2012 Tallinn, Estonia
2012
http://www.ester.ee/record=b2777270*est
raamat
39
raamat
Product and manufacturing in electronics : supplementary material in the subject "Technologies of electronic circuits"
Rang, Toomas
2003
https://www.ester.ee/record=b1766953*est
raamat
40
artikkel kogumikus
Rejuvenation of nanoscale logic at NBTI-critical paths using evolutionary TPG
Palermo, N.
;
Tihhomirov, Valentin
;
Copetti, Thiago
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
;
Kostin, Sergei
2015 16th Latin American Test Symposium (LATS 2015) : Puerto Vallarta, Mexico, 25-27 March 2015
2015
/
[6] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/LATW.2015.7102405
artikkel kogumikus
41
artikkel kogumikus
Scalable algorithm for structural fault collapsing in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Orasson, Elmet
;
Raik, Jaan
2015 IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) : October 5-7, 2015, Daejeon, Korea
2015
/
p. 171-176 : ill
artikkel kogumikus
42
artikkel kogumikus
7-valued algebra for transition delay fault analysis
Kõusaar, Jaak
;
Ubar, Raimund-Johannes
BEC 2014 : 2014 14th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 14th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 6-8, 2014, Tallinn, Estonia
2014
/
p. 89-92 : ill
artikkel kogumikus
43
artikkel kogumikus
Shared Structurally Synthesized BDDs for speeding-up parallel pattern simulation in digital circuits
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jürimägi, Lembit
;
Raik, Jaan
2015 Nordic Circuits and Systems Conference (NORCAS) : NORCHIP & International Symposium on System-on-Chip (SoC) : 1st IEEE NORCAS Conference : 26-28 October 2015, Oslo, Norway
2015
/
[4] p. : ill
http://dx.doi.org/10.1109/NORCHIP.2015.7364406
artikkel kogumikus
44
artikkel kogumikus
SPICE-inspired fast gate-level computation of NBTI-induced delays in nanoscale logic
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems DDECS 2015 : 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia : proceedings
2015
/
p. 223-228 : ill
artikkel kogumikus
45
artikkel kogumikus
State of charge estimation for Li-ion batteries based on equivalent circuit diagrams and the application of a Kalman filter
Rahmoun, Ahmad
;
Biechl, Helmuth
;
Rosin, Argo
12th International Symposium "Topical Problems in the Field of Electrical and Power Engineering." Doctoral School of Energy and Geotechnology II : Kuressaare, Estonia, June 11-16, 2012
2012
/
p. 125-128 : ill
artikkel kogumikus
46
dissertatsioon
Symbolic test generation for hierarchically modeled digital systems
Zaugarov, Viktor
1993
https://www.ester.ee/record=b2090336*est
dissertatsioon
47
artikkel ajakirjas
10th IEEE European Test Symposium
Ubar, Raimund-Johannes
;
Prinetto, Paolo
;
Raik, Jaan
IEEE journal of design & test of computers
2005
/
p. 480-481 : phot
http://dx.doi.org/10.1109/MDT.2005.106
artikkel ajakirjas
48
artikkel kogumikus
Testing tools
Jutman, Artur
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 361-365 : ill
artikkel kogumikus
49
artikkel kogumikus
Testing tools
Raik, Jaan
Handbook of testing electronic systems
2005
/
p. 373-378 : ill
artikkel kogumikus
50
artikkel kogumikus
A tool set for teaching design-for-testability of digital circuits
Kostin, Sergei
;
Orasson, Elmet
;
Ubar, Raimund-Johannes
EWME 2016 : 11th European Workshop on Microelectronics Education : May 11-13, 2016, Southampton, UK
2016
/
[6] p. : ill
https://doi.org/10.1109/EWME.2016.7496466
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 64, kuvan
26 - 50
eelmine
1
2
3
järgmine
märksõna
1
1.
elektronlülitused
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT