An external test approach for network-on-a-chip switches
vastutusandmed
Jaan Raik, Vineeth Govind, Raimund Ubar
allikas
ATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan
ilmumiskoht
Washington
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 437-442 : ill
konverentsi nimetus, aeg
15th Asian Test Symposium, November 20-23, 2006
konverentsi toimumispaik
Fukuoka, Japan
märksõna
ISBN
0-7695-2628-4
märkused
Bibliogr.: 14 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Raik, J., Govind, V., Ubar, R.-J. An external test approach for network-on-a-chip switches // ATS '06 : Proceedings of the 15th Asian Test Symposium : November 20-23, 2006, Fukuoka, Japan. Washington : IEEE Computer Society, 2006. p. 437-442 : ill.