prindi

About robustness of test patterns regarding multiple faults

autor
Ubar, Raimund-Johannes
Kostin, Sergei
Raik, Jaan
vastutusandmed
Raimund Ubar, Sergei Kostin, Jaan Raik
allikas
LATW 2012 : 13th IEEE Latin-American Test Workshop proceedings : April 10th-13th, 2012, Quito, Ecuador
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2012
leheküljed
p. 86-91 : ill
konverentsi nimetus, aeg
LATW 2012: 13th Latin-American Test Workshop, April 10-13, 2012
konverentsi toimumispaik
Quito, Ecuador
ISBN
978-1-4673-2356-7
märkused
Bibliogr.: 37 ref
keel
inglise
Ubar, R., Kostin, S., Raik, J. About robustness of test patterns regarding multiple faults // LATW 2012 : 13th IEEE Latin-American Test Workshop proceedings : April 10th-13th, 2012, Quito, Ecuador. [S.l.] : IEEE, 2012. p. 86-91 : ill.