Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levels
autor
vastutusandmed
R.Ubar
ilmumiskoht
[Ilmenau]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
S. 711-716 : Ill
märkused
Bibliogr.: 8 Tit. Tiitellehe pöördel ISSN 0943-7207
Ubar, R. Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levels // 45. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 04.-06.10.2000 : Tagungsband. [Ilmenau] : Technische Universität Ilmenau, 2000. S. 711-716 : Ill.