prindi

High-level test synthesis with hierarchical test generation

autor
Jervan, Gert
Eles, Petru
Peng, Zebo
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Gert Jervan, Petru Eles, Zebo Peng, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
1999
leheküljed
p. 291-296
märksõna
testid
testimine
süntees
ISBN
87-982637-2-2
märkused
Bibl. 9 ref
keel
inglise
Jervan, G., Eles, P., Peng, Z., Raik, J., Ubar, R. High-level test synthesis with hierarchical test generation // 17th NORCHIP Conference : Oslo, Norway, 8-9 November 1999 : proceedings. [S.l.] : IEEE, 1999. p. 291-296.