prindi

Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits

autor
Viilukas, Taavi
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
Rannaste, Anna
Jenihhin, Maksim
Fujiwara, Hideo
vastutusandmed
Taavi Viilukas, Jaan Raik, Raimund Ubar, Anna Rannaste, Maksim Jenihhin, Hideo Fujiwara
allikas
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
[Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus]
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 139-142 : ill
konverentsi nimetus, aeg
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viies aastakonverents, 25.-26. november 2011
konverentsi toimumispaik
Nelijärve
märksõna
digitaalintegraallülitused
testid
testimine
ISBN
978-9949-23-218-5
märkused
Bibliogr.: 19 ref
keel
inglise
Viilukas, T., Raik, J., Ubar, R., Rannaste, A., Jenihhin, M., Fujiwara, H. Constraint-based hierarchical untestability identification for syncronous sequential circuits // Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK viienda aastakonverentsi artiklite kogumik : 25.-26. novembril 2011, Nelijärve. [Tallinn] : [Tallinna Tehnikaülikooli kirjastus], 2011. p. 139-142 : ill.