Design and test technology for dependable systems-on-chip
vastutusandmed
[editors] Raimund Ubar, Jaan Raik, Heinrich Theodor Vierhaus
ilmumiskoht
Hershey
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
550 p. : ill
märksõna
ISBN
978-1-60960-212-3
keel
inglise
Ubar, R., Raik, J., Vierhaus, H.T. (ed.). Design and test technology for dependable systems-on-chip. Hershey : Information Science Reference, 2011. 550 p. : ill.