prindi

Constraint-based hierarchical untestability identification for synchronous sequential circuits

autor
Raik, Jaan
Rannaste, Anna
Jenihhin, Maksim
Viilukas, Taavi
Ubar, Raimund-Johannes
Fujiwara, Hideo
vastutusandmed
Jaan Raik, Anna Rannaste, Maksim Jenihhin, Taavi Viilukas, Raimund Ubar, Hideo Fujiwara
allikas
Sixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2011
leheküljed
p. 147-152
konverentsi nimetus, aeg
Sixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011
konverentsi toimumispaik
Trondheim
märksõna
digitaalintegraallülitused
testid
testimine
ISSN
1530-1877
ISBN
978-0-7695-4433-5
978-1-4577-0483-3
märkused
Bibliogr.: 19 ref
keel
inglise
Raik, J., Rannaste, A., Jenihhin, M., Viilukas, T., Ubar, R., Fujiwara, H. Constraint-based hierarchical untestability identification for synchronous sequential circuits // Sixteenth IEEE European Test Symposium : 23-27 May 2011, Trondheim. [S.l.] : IEEE, 2011. p. 147-152.