Defect-oriented BIST quality analysis

pealdis
Kruus, H., Ubar, R., Raik, J.
vastutusandmed
H. Kruus, R. Ubar, J. Raik
ilmumiskoht
[Tallinn]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 153-156 : ill
konverentsi nimetus, aeg
12th Biennial Baltic Electronics Conference, 2010
konverentsi toimumispaik
Tallinn
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-4244-7357-1
märkused
Bibliogr.: 18 ref
leidumus
TTÜ sundeksemplaride kogus
TTÜ struktuurikood
ia
maakood
ed
keel
inglise
aruandeväli
etis2010
aastar2010i
toim. märkused
PUBL-v1-43032-kahro@lib.ttu.ee
Ad 261010
MTd 211123
Kruus, H., Ubar, R., Raik, J. Defect-oriented BIST quality analysis // BEC 2010 : 2010 12th Biennial Baltic Electronics Conference : proceedings of the 12th Biennial Baltic Electronics Conference : Tallinn University of Technology, October 4-6, 2010, Tallinn, Estonia. [Tallinn] : Tallinn University of Technology, 2010. p. 153-156 : ill.