prindi

High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test

autor
Oyeniran, Adeboye Stephen
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Ubar, Raimund-Johannes
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2022
leheküljed
p. 32-37
konverentsi nimetus, aeg
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 04-06 July 2022
konverentsi toimumispaik
Nicosia, Cyprus
leitav
https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019
märksõna
mikroprotsessorid
riistvara
testimine
rikked
diagnostika (tehnika)
võtmesõna
microprocessor testing
fault diagnosis
high-level functional fault model
fault diagnostic resolution
ISSN
2159-3477
2159-3469
ISBN
978-1-6654-6605-9
978-1-6654-6606-6
märkused
Bibliogr.: 33 ref
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Oyeniran, A.S., Jenihhin, M., Raik, J., Ubar, R. High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test // 2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022. : IEEE, 2022. p. 32-37. https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019