prindi

High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test

pealdis
Oyeniran, A.S., Jenihhin, M., Raik, J., Ubar, R.
autor
vastutusandmed
Adeboye Stephen Oyeniran, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar
allikas
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 32-37
konverentsi nimetus, aeg
2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI), 04-06 July 2022
konverentsi toimumispaik
Nicosia, Cyprus
leitav
märksõna
võtmesõna
ISSN
2159-3477
2159-3469
ISBN
978-1-6654-6605-9
978-1-6654-6606-6
märkused
Bibliogr.: 33 ref
leidumus
Võrguteavik
teaduspublikatsioon
teaduspublikatsioon
klassifikaator
3.1
TTÜ struktuuriüksus
TTÜ struktuurikood
ia
maakood
us
keel
inglise
toim. märkused
Mi 060223
Uurimisrühma
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus
Oyeniran, A.S., Jenihhin, M., Raik, J., Ubar, R. High-level fault diagnosis in RISC processors with Implementation-Independent Functional Test // 2022 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) : Nicosia, Cyprus : 04-06 July 2022. : IEEE, 2022. p. 32-37. https://doi.org/10.1109/ISVLSI54635.2022.00019