Teaching digital test with BIST analyzer

vastutusandmed
A. Jutman, A. Tsertov, A. Tsepurov, I. Aleksejev, R. Ubar, H.-D. Wuttke
ilmumiskoht
[S.l.]
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 123-128 : ill
konverentsi nimetus, aeg
19th EAEEIE Annual Conference, June 29-July 2, 2008
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
ISBN
978-1-4244-2008-7
märkused
Bibliogr.: 8 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Jutman, A., Tšertov, A., Tšepurov, A., Aleksejev, I., Ubar, R., Wuttke, H.-D. Teaching digital test with BIST analyzer // 19th EAEEIE Annual Conference : June 29-July 2, 2008, Tallinn, Estonia : formal proceedings. [S.l.] : IEEE, 2008. p. 123-128 : ill. http://dx.doi.org/10.1109/EAEEIE.2008.4610171