Raik, J., Govind, V., Ubar, R. - TalTech teadusportaal

täiskirje prindi

An external test approach for network-on-a-chip switches

autor

Raik, Jaan

Govind, Vineeth

Ubar, Raimund-Johannes

vastutusandmed

Jaan Raik, Vineeth Govind, Raimund Ubar

allikas

2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium

ilmumiskoht

Kolkata

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2011

leheküljed

p. 185-190 : ill

ISBN

978-93-80813-12-7

märkused

Bibliogr.: 14 ref

keel

inglise

Märksõnad ja võtmesõnad

märksõna

arvutivõrgud

integraallülitused

testimine

Raik, J., Govind, V., Ubar, R. An external test approach for network-on-a-chip switches // 2002-2011 : 20th Anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium. Kolkata : IEEE, 2011. p. 185-190 : ill.