TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Jutman, A., Ubar, R.-J.
maakood se
autor Raik, Jaan
Jutman, Artur
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Fast static compaction of test sequences using implications and greedy search
vastutusandmed J.Raik, A.Jutman, R.Ubar
allikas ETW 2001 : IEEE European Test Workshop : Stockholm, May 29 June 1, 2001 : informal digest
ilmumiskoht [S. l.]
ilmumisaasta [2001]
leheküljed p. 207-209 : ill
märkused Bibliogr.: 13 ref