TalTech publikatsioonid
pealdis Raik, J., Govind, V., Ubar, R.-J.
maakood us
keel inglise
autor Raik, Jaan
Govind, Vineeth
Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri RT-level test point insertion for sequential circuits
vastutusandmed Jaan Raik, Vineeth Govind, Raimund Ubar
allikas IWoTA 2004 : IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment : November 2, 2004, Rennes, France : proceedings
ilmumiskoht Piscataway
kirjastus/väljaandja IEEE
ilmumisaasta 2004
leheküljed p. 34-40 : ill
konverentsi nimetus, aeg IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment, November 2, 2004
konverentsi toimumispaik Rennes, France
ISBN 0-7803-8851-8
märkused Bibliogr.: 10 ref