TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R.
maakood de
autor Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Hierarchical approach to test generation for digital systems at system, circuit and defect levels
vastutusandmed R.Ubar
allikas 45. Internationales Wissenschaftliches Kolloquium, 04.-06.10.2000 : Tagungsband
ilmumiskoht [Ilmenau]
kirjastus/väljaandja Technische Universität Ilmenau
ilmumisaasta c2000
leheküljed S. 711-716 : Ill
märkused Bibliogr.: 8 Tit. Tiitellehe pöördel ISSN 0943-7207