TalTech publikatsioonid
pealdis Ubar, R.
maakood gb
keel inglise
autor Ubar, Raimund-Johannes
pealkiri Combining functional and structural approaches in test generation for digital systems
vastutusandmed Raimund Ubar
allikas Microelectronics reliability
ajakirja aastakäik number kuu Vol. 38
ilmumisaasta 1998
leheküljed 3, p. 317-329 : ill
märksõna digitaaltehnika
testimine
testid
märkused Bibliogr.: 33 ref