Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
veakindlus (märksõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
11
Vaata veel..
(1/1)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(11)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Analysis and improvement of resilience for long short-term memory neural networks
Ahmadilivani, Mohammad Hasan
;
Raik, Jaan
;
Daneshtalab, Masoud
;
Kuusik, Alar
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2023
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313559
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Bidirectional solid-state DC circuit breaker for the protection of cesidential and Commercial DC buildings
Aditya, P.
;
Yagna, V.
;
Banoth, T.
;
Chub, Andrii
;
Banavath, Satish Naik
2023 IEEE 8th Southern Power Electronics Conference and 17th Brazilian Power Electronics Conference (SPEC/COBEP)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/SPEC56436.2023.10407460
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
Comparison of (N+1) redundancy and fault tolerance approaches in single-stage series-connected isolated MVAC to LVDC converters
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Blinov, Andrei
;
Bayhan, Sertac
;
Vinnikov, Dmitri
2023 International Conference on Clean Electrical Power (ICCEP)
2023
/
p. 469-474 : ill
https://doi.org/10.1109/ICCEP57914.2023.10247478
artikkel kogumikus
4
artikkel kogumikus
How to prove that a circuit is fault-free?
Ubar, Raimund-Johannes
;
Kostin, Sergei
;
Raik, Jaan
Proceedings : 15th Euromicro Conference on Digital System Design DSD 2012 : 5-8 September 2012, Cesme, Izmir, Turkey
2012
/
p. 427-430 : ill
https://www.researchgate.net/publication/262271409_How_to_Prove_that_a_Circuit_is_Fault-Free
artikkel kogumikus
5
artikkel kogumikus
On-chip sensors data collection and analysis for SoC health management
Shibin, Konstantin
;
Jenihhin, Maksim
;
Jutman, Artur
;
Devadze, Sergei
;
Tsertov, Anton
2023 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)
2023
/
6 p
https://doi.org/10.1109/DFT59622.2023.10313562
artikkel kogumikus
6
artikkel ajakirjas
Optimization and experimentation of fault-tolerant Field Excited Linear Flux Switching Machine with concentrated and toroidal windings for rail transportation system
Hussain, Shahid
;
Khan, Faisal
;
Ullah, Wasiq
;
Ullah, Basharat
;
Khan, Bakhtiar
IEEE transactions on industry applications
2023
/
p. 1361−1371
https://doi.org/10.1109/TIA.2022.3223341
artikkel ajakirjas
7
artikkel kogumikus
Representing gate-level SET faults by multiple SEU faults on RT-level
Bagbaba, Ahmet Cagri
;
Jenihhin, Maksim
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Sauer, Christian
2020 IEEE 26th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 13-15 July 2020 : proceedings
2020
/
art. 19889351, 6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/IOLTS50870.2020.9159715
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Methods to optimize functional safety assessment for automotive integrated circuits = Meetodid autotööstuse kiipide funktsionaalse ohutuse hindamise optimeerimiseks
8
artikkel kogumikus
RESCUE: interdependent challenges of reliability, security and quality in nanoelectronic systems
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2020 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 9-13 March 2020, Grenoble, France : proceedings
2020
/
art. 19690741 , 6 p
https://doi.org/10.23919/DATE48585.2020.9116558
artikkel kogumikus
9
artikkel kogumikus
Short-circuit fault detection and remedial in full-bridge rectifier of series resonant DC-DC converter based on inductor voltage signature
Bakeer, Abualkasim Ahmed Ali
;
Chub, Andrii
;
Vinnikov, Dmitri
2020 IEEE 61st International Scientific Conference on Power and Electrical Engineering of Riga Technical University (RTUCON), Riga, Latvia, Nov. 5-7, 2020 : conference proceedings
2020
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/RTUCON51174.2020.9316482
artikkel kogumikus
Seotud publikatsioonid
1
Fault-tolerant galvanically isolated DC‑DC converters with zero redundancy = Null-liiasusega veatolerantsed galvaanilise isolatsiooniga alalispingemuundurid
10
artikkel ajakirjas
Tehissüsteemide veakindlusest : [TTÜ arvutitehnika instituudi teadustöödest]
Ubar, Raimund-Johannes
Horisont
2006
/
2, lk. 64-69 : ill
https://artiklid.elnet.ee/record=b2039558*est
artikkel ajakirjas
11
artikkel ajakirjas
Usaldusväärsus ja veakindlus infohankesüsteemides
Müürsepp, Ivo
A & A
2011
/
2, lk. 28-46 : ill
artikkel ajakirjas
Kirjeid leitud 11, kuvan
1 - 11
märksõna
1
1.
veakindlus
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT