prindi

An approach for verification assertions reuse in RTL test pattern generation

autor
Jenihhin, Maksim
Raik, Jaan
Fujiwara, Hideo
Ubar, Raimund-Johannes
Viilukas, Taavi
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Hideo Fujiwara, Raimund Ubar, Taavi Viilukas
allikas
Digest of papers : IEEE 11th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'10 : December 5-6, 2010, Shanghai, China
ilmumiskoht
[Shanghai]
ilmumisaasta
2010
leheküljed
p. 107-110 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE 11th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'10 : December 5-6, 2010
konverentsi toimumispaik
Shanghai, China
märksõna
komplekssüsteemid
töökindlus
testimine
märkused
Bibliogr.: 25 ref
keel
inglise
Jenihhin, M., Raik, J., Fujiwara, H., Ubar, R., Viilukas, T. An approach for verification assertions reuse in RTL test pattern generation // Digest of papers : IEEE 11th Workshop on RTL and High Level Testing : WRTLT'10 : December 5-6, 2010, Shanghai, China. [Shanghai], 2010. p. 107-110 : ill.