Multi-view modeling for MPSoC design aspects [Online resource]
autor
Vain, Jüri
Apneet Kaur
Tsiopoulos, Leonidas
Raik, Jaan
Jenihhin, Maksim
vastutusandmed
Juri Vain, Apneet Kaur, Leonidas Tsiopoulos, Jaan Raik, Maksim Jenihhin
allikas
BEC 2018 : 2018 16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) : proceedings of the 16th Biennial Baltic Electronics Conference, October 8-10, 2018
kirjastus/väljaandja
IEEE
ilmumisaasta
2018
leheküljed
4 p.: ill
konverentsi nimetus, aeg
16th Biennial Baltic Electronics Conference (BEC), October 8-10, 2018
konverentsi toimumispaik
Tallinn, Estonia
leitav
https://doi.org/10.1109/BEC.2018.8600986
märksõna
kiipvõrgud
testimine
programmeerimiskeeled
tarkvaraarendus
võtmesõna
network-on-chip
model-checking
UPPAAL timed automata
design aspects
Design-by-Contract
ISSN
1736-3705
ISBN
978-1-5386-7313-3
märkused
Bibliogr.: 10 ref
TTÜ struktuuriüksus
tarkvarateaduse instituut
arvutisüsteemide instituut
keel
inglise
Uurimisrühm
Küberkriminalistika ja küberjulgeoleku keskus
Merenduse küberjulgeoleku keskus
Tugevalt tagatud tarkvara laboratoorium
Töökindla arvutusriistvara keskus (TARK)
Usaldusväärsete arvutisüsteemide keskus