An approach for verification assertions reuse 2 in RTL test pattern generation
vastutusandmed
Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Taavi Viilukas, Hideo Fujiwara
allikas
Journal of Shanghai Normal University : Natural Sciences
ajakirja aastakäik number kuu
Vol. 39, No. 5
ilmumisaasta
leheküljed
p. 441-447 : ill
konverentsi nimetus, aeg
IEEE Eleventh Workshop on RTL and High Level Testing, 5-6 December 2010
konverentsi toimumispaik
Shangai
ISSN
1000-5137
märkused
Bibliogr.: 25 ref
Kokkuvõte hiina keeles
keel
inglise
Jenihhin, M., Raik, J., Ubar, R., Viilukas, T., Fujiwara, H. An approach for verification assertions reuse 2 in RTL test pattern generation // Journal of Shanghai Normal University : Natural Sciences (2010) Vol. 39, No. 5, p. 441-447 : ill.