Kostin, S., Raik, J., Ubar, R., Jenihhin, M. et al.

prindi

Hierarchical identification of NBTI-critical gates in nanoscale logic

autor

Kostin, Sergei

Raik, Jaan

Ubar, Raimund-Johannes

Jenihhin, Maksim

vastutusandmed

Sergei Kostin, Jaan Raik, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, ... [et al.]

allikas

LATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 2014

ilmumiskoht

[S.l.]

kirjastus/väljaandja

IEEE

ilmumisaasta

2014

leheküljed

[6] p. : ill

konverentsi nimetus, aeg

15th IEEE Latin-American Test Workshop, March 12-15, 2014

konverentsi toimumispaik

Fortaleza, Brazil

märksõna

elektronlülitused

rikked

võtmesõna

NBTI-critical gate

critical path identification

static timing analysis

aging

logic circuit

ISBN

978-1-4799-4711-9

märkused

Bibliogr.: 13 ref

TTÜ struktuuriüksus

arvutitehnika instituut

keel

inglise

Kostin, S., Raik, J., Ubar, R., Jenihhin, M. et al. Hierarchical identification of NBTI-critical gates in nanoscale logic // LATW2014 : 15th IEEE Latin-American Test Workshop : Fortaleza, Brazil, March 12th-15th, 2014. [S.l.] : IEEE, 2014. [6] p. : ill.