Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking
vastutusandmed
Jaan Raik, Hideo Fujiwara, Raimund Ubar, Anna Krivenko
allikas
Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan
ilmumiskoht
Los Alamitos
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 21-26 : ill
konverentsi nimetus, aeg
17th Asian Test Symposium, November 24-27, 2008
konverentsi toimumispaik
Sapporo, Japan
märksõna
ISSN
1081-7735
ISBN
978-0-7695-3396-4
märkused
Bibliogr.: 11 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
Raik, J., Fujiwara, H., Ubar, R.-J., Krivenko, A. Untestable fault identification in sequential circuits using model-checking // Proceedings of the 17th Asian Test Symposium ATS 2008 : November 24-27, 2008, Sapporo, Japan. Los Alamitos : IEEE Computer Society Press, 2008. p. 21-26 : ill.