Application specific true critical paths identification in sequential circuits
autor
vastutusandmed
Lembit Jürimägi, Raimund Ubar, Maksim Jenihhin, Jaan Raik, Sergei Devadze, Adeboye Stephen Oyeniran
ilmumiskoht
Piscataway
kirjastus/väljaandja
ilmumisaasta
leheküljed
p. 299-304 : ill
konverentsi nimetus, aeg
25th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, July 1-3, 2019
konverentsi toimumispaik
Rhodes Island, Greece
ISSN
1942-9401
1942-9398
ISBN
978-1-7281-2490-2
978-1-7281-2491-9
märkused
Bibliogr.: 25 ref
TTÜ struktuuriüksus
keel
inglise
võtmesõna
Jürimägi, L., Ubar, R., Jenihhin, M., Raik, J., Devadze, S., Oyeniran, A. Application specific true critical paths identification in sequential circuits // 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2019) : 1-3 July 2019, Greece. Piscataway : IEEE, 2019. p. 299-304 : ill.