Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
control and data path tests (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/63)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
Salvesta PDF fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level combined deterministic and pseudo-exhuastive test generation for RISC processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
63
1.
control and data path tests
2.
supervisory control and data acquisition (SCADA)
3.
finite control set-model predictive control (FCS-MPC)
4.
modulated finite control set-model predictive control
5.
critical path
6.
critical path fault tracing
7.
critical path identification
8.
critical path method
9.
critical path tracing
10.
deformation path
11.
development path
12.
fault simulation with critical path tracing
13.
feasible path generation
14.
helical path separation
15.
human path rehabilitation
16.
mean free path
17.
minimal path
18.
multi-path
19.
NBTI-critical path
20.
NBTI-induced path delay estimation
21.
path analyses
22.
path dependency
23.
path identification
24.
path loss model
25.
path planning
26.
reaction path
27.
shortest path
28.
shortest-path
29.
test path synthesis
30.
timing-critical path
31.
tracking path
32.
accelerated shelf-life tests
33.
bird streamer tests
34.
deterministic and pseudo-exhaustive tests
35.
direct-to-consumer genetic tests
36.
field tests model validation
37.
fine-motor tests
38.
fire resistance tests
39.
fire tests
40.
forced oscillation and seakeeping tests
41.
genetic tests
42.
hand-drawn tests
43.
industrial field wear tests
44.
interlaboratory comparative tests
45.
isothermal nucleic acid amplification tests
46.
kidney function tests
47.
laboratory tests
48.
Luria’s alternating series tests
49.
noninstrumented nucleic acid amplification tests (NINAAT)
50.
nucleic acid amplification tests (NAAT)
51.
PBH tests
52.
perforation tests
53.
psychological tests
54.
random diagnostic tests
55.
rapid diagnostic tests
56.
tearing tests
57.
tensile tests
58.
Tests
59.
thermal tests
60.
towing tank tests
61.
tribological tests
62.
wetting tests
63.
4-point bending tests
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT