Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
control and data path tests (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
2
Vaata veel..
(1/67)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(2)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
High-level combined deterministic and pseudo-exhuastive test generation for RISC processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Gürsoy, Cemil Cem
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
High-Level Combined Deterministic and Pseudo-exhuastive Test Generation for RISC Processors
Oyeniran, Adeboye Stephen
;
Ubar, Raimund-Johannes
;
Jenihhin, Maksim
;
Raik, Jaan
2019 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2019, May 27-31, 2019, Baden-Baden, Germany : Proceedings
2019
/
6 p. : ill
https://doi.org/10.1109/ETS.2019.8791526
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 2, kuvan
1 - 2
võtmesõna
67
1.
control and data path tests
2.
data-driven control
3.
sampled-data control
4.
supervisory control and data acquisition (SCADA)
5.
finite control set-model predictive control (FCS-MPC)
6.
modulated finite control set-model predictive control
7.
critical path
8.
critical path fault tracing
9.
critical path identification
10.
critical path method
11.
critical path tracing
12.
deformation path
13.
development path
14.
fault simulation with critical path tracing
15.
feasible path generation
16.
Growth path
17.
helical path separation
18.
human path rehabilitation
19.
mean free path
20.
minimal path
21.
multi-path
22.
NBTI-critical path
23.
NBTI-induced path delay estimation
24.
Parallel Fault Simulation with Critical Path Backtracing
25.
path analyses
26.
path dependency
27.
path identification
28.
path loss model
29.
path planning
30.
reaction path
31.
shortest path
32.
shortest-path
33.
test path synthesis
34.
timing-critical path
35.
tracking path
36.
accelerated shelf-life tests
37.
bird streamer tests
38.
deterministic and pseudo-exhaustive tests
39.
direct-to-consumer genetic tests
40.
field tests model validation
41.
fine-motor tests
42.
fire resistance tests
43.
fire tests
44.
forced oscillation and seakeeping tests
45.
genetic tests
46.
hand-drawn tests
47.
industrial field wear tests
48.
interlaboratory comparative tests
49.
isothermal nucleic acid amplification tests
50.
kidney function tests
51.
laboratory tests
52.
Luria’s alternating series tests
53.
noninstrumented nucleic acid amplification tests (NINAAT)
54.
nucleic acid amplification tests (NAAT)
55.
PBH tests
56.
perforation tests
57.
psychological tests
58.
random diagnostic tests
59.
rapid diagnostic tests
60.
tearing tests
61.
tensile tests
62.
Tests
63.
thermal tests
64.
towing tank tests
65.
tribological tests
66.
wetting tests
67.
4-point bending tests
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT