Toggle navigation
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
Switch to English
Intranet
Publikatsioonid
Profiilid
Uurimisrühmad
Registrid
Abi ja info
English
Intranet
Andmebaasid
Publikatsioonid
Otsing
Valitud kirjed
0
metamorphic testing (võtmesõna)
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Kõikidelt väljadelt
Allika otsing
Autori otsing
Märksõna otsing
Pealkirja otsing
algab
sisaldab
täpne vaste
—
Lisa tingimus
Liitotsing
filter
Tühista
×
teaviku laadid
raamat
..
artikkel ajakirjas
..
artikkel ajalehes
..
artikkel kogumikus
..
dissertatsioon
..
Open Access
..
Teaduspublikatsioon
..
aasta
ilmumisaasta
Toon andmeid..
autor
Toon andmeid..
TTÜ struktuuriüksus
Toon andmeid..
märksõna
Toon andmeid..
seeria-sari
Toon andmeid..
tema kohta
Toon andmeid..
võtmesõna
Toon andmeid..
Tühista
Kirjeid leitud
3
Vaata veel..
(1/88)
Ekspordi
ekspordi kõik päringu tulemused
(3)
Salvesta TXT fail
prindi
Märgitud kirjetega toimetamiseks ava
valitud kirjed
kuva
Bibliokirje
Lühikirje
reasta
autor kasvavalt
autor kahanevalt
ilmumisaasta kasvavalt
ilmumisaasta kahanevalt
pealkiri kasvavalt
pealkiri kahanevalt
1
artikkel kogumikus
Iterative optimization of hyperparameter-based metamorphic transformations
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2024 IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
2024
/
p. 13-20
https://doi.org/10.1109/ICSTW60967.2024.00016
Article at Scopus
Article at WOS
artikkel kogumikus
2
artikkel kogumikus
Metamorphic testing for verification and fault localization in industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
CyberSecurity in a DevOps Environment: From Requirements to Monitoring
2023
/
p. 127 - 159
https://doi.org/10.1007/978-3-031-42212-6_5
Article at Scopus
artikkel kogumikus
3
artikkel kogumikus
A two-phase metamorphic approach for testing industrial control systems
Sudheerbabu, Gaadha
;
Ahmad, Tanwir
;
Sebek, Filip
;
Truscan, Dragos
;
Vain, Jüri
;
Porres, Ivan
2022 IEEE 27th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation (ETFA) : proceedings
2022
/
4 p
https://doi.org/10.1109/ETFA52439.2022.9921439
artikkel kogumikus
Kirjeid leitud 3, kuvan
1 - 3
võtmesõna
88
1.
metamorphic testing
2.
accelerated testing
3.
acoustomechanical testing
4.
anaerobic testing
5.
aspect-oriented testing
6.
assessment and testing
7.
at-speed testing
8.
benchmark testing
9.
Berridge testing
10.
burst testing
11.
cancer genomic testing
12.
compliance testing
13.
compositional testing
14.
computer aided testing
15.
cone heater testing
16.
conformance testing
17.
courses on electronic testing and design
18.
cybersecurity testing
19.
D. non-destructive testing
20.
deformation testing
21.
design field testing
22.
destructive testing
23.
eddy current testing
24.
eddy current testing (ECT)
25.
erosion testing
26.
fabric testing
27.
fatigue testing
28.
fire testing
29.
hierarchical testing
30.
hypotheses testing
31.
Implementation-Independent Testing of Microprocessors
32.
integration testing
33.
laboratory scale testing
34.
load testing
35.
macro mechanical testing and green surface tribology
36.
material testing
37.
materials testing
38.
measurement and testing
39.
mechanical testing
40.
memory testing
41.
microprocessor testing
42.
model based testing
43.
model-based mutation testing
44.
model-based testing
45.
multi-scenario testing
46.
mutation testing
47.
network-testing
48.
non destructive testing
49.
nondestructive testing
50.
non-destructive testing
51.
non-destructive testing (NDT)
52.
On-site drug testing
53.
on-site testing
54.
pin on disc wear testing
55.
PMU calibration testing
56.
PMU testing
57.
point-of-care testing
58.
processor core testing
59.
processor testing
60.
real-time HiL testing
61.
regression testing
62.
RISC processor testing
63.
robustness testing
64.
safety and security testing
65.
scenario testing
66.
Scenario-Based Testing
67.
scratch testing
68.
security testing
69.
shear testing
70.
small-scale fire testing
71.
software testing
72.
software-in-the-loop (SIL) testing
73.
stand-alone testing
74.
stress-testing
75.
substation testing methods
76.
system testing
77.
tensile testing
78.
testing
79.
testing methods
80.
testing of digital devices
81.
testing of generator
82.
testing of phasor measurement units
83.
two-dimensional array testing
84.
ultrasonic testing
85.
wafer testing
86.
wear testing
87.
vibration testing
88.
virtual testing
×
vaste
algab
lõpeb
sisaldab
reasta
Relevantsuse alusel
kasvavalt
kahanevalt
ilmumisaasta
autor
TTÜ struktuuriüksus
märksõna
seeria-sari
tema kohta
võtmesõna
Otsing
Valikud
0
ilmumisaasta
AND
OR
NOT
autor
AND
OR
NOT
TTÜ struktuuriüksus
AND
OR
NOT
märksõna
AND
OR
NOT
seeria-sari
AND
OR
NOT
tema kohta
AND
OR
NOT
võtmesõna
AND
OR
NOT